[发明专利]一种对于集成电路板电子元件的检测设备

说明书

本发明涉及一种集成电路测试设备，尤其涉及一种对于集成电路板电子元件的检测设备。本发明要解决的技术问题是提供采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的一种对于集成电路板电子元件的检测设备。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种对于集成电路板电子元件的检测设备。本发明达到了采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的效果。

技术领域

本发明涉及一种集成电路测试设备，尤其涉及一种对于集成电路板电子元件的检测设备。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母IC表示。

目前在对集成电路的电子元件进行检测的时候，尤其是对集成电路的电子元件在安装的时候是否缺失进行检测的时候，大部分都是采用质检员进行观察，但是在集成电路板中有很多的大小不一的电子元件，难以观察到缺失的电子元件，而且在检测的过程中，质检员的眼睛疲劳也会降低检测的准确率。

因此亟需研发一种采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的对于集成电路板电子元件的检测设备来克服目前对集成电路板的电子元件进行缺失检测的过程中存在采用人工很难对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点有可能对质检员的手造成伤害的缺点。

发明内容

（1）要解决的技术问题

本发明为了克服目前对集成电路板的电子元件进行缺失检测的过程中存在采用人工很难对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点有可能对质检员的手造成伤害的缺点，本发明要解决的技术问题是提供采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的一种对于集成电路板电子元件的检测设备。

（2）技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种对于集成电路板电子元件的检测设备，包括有支架、固定板、第一连接板、第一滑轨、第一滑块、第二连接板、刻度板、指针、托块、第二滑轨、第二滑块、第一连接杆、把手、电阻表、第一导轨、第一导套、第二连接杆、弹簧、滑套、电阻丝、探头、挡块和触片，两根支架前侧下方之间通过焊接的方式安装有固定板，固定板上中部左侧和右侧通过焊接的方式安装有第一连接板，固定板内左右两侧通过螺栓连接的方式安装有第一滑轨，第一滑轨内滑动式连接有第一滑块，第一滑块上侧通过焊接的方式安装有第二连接板，第二连接板右侧中部通过焊接的方式安装有刻度板，第一连接板中部开有通孔，刻度板穿过通孔，第一连接板右侧上方通过焊接的方式安装有指针，指针指在刻度板上，第一连接板和第二连接板内侧上方之间通过焊接的方式安装有托块，支架前侧上方通过螺栓连接的方式安装有第二滑轨，第二滑轨内滑动式连接有两个第二滑块，第二滑块之间连接有第一连接杆，第二滑块上侧通过焊接的方式安装有把手，把手左侧通过螺栓连接的方式安装有电阻表，第二滑块下侧右方通过焊接的方式安装有第一导轨，第一导轨上滑动式连接有第一导套，第一导套之间连接有第二连接杆，第一导套下侧通过焊接的方式安装有弹簧，弹簧下侧通过焊接的方式连接在第一导轨下侧，第一导套左端通过焊接的方式安装有滑套，滑套内滑动式连接有电阻丝，电阻丝下端连接有探头，电阻丝上端连接有挡块，滑套下侧左方连接有触片，触片与电阻丝接触。