[发明专利]一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置

权利要求书

1. 一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置，其特征在于：包括有高斯光束中的纳米线、双微透镜结构、液浸装置、保偏光纤耦合器、带保偏尾纤的法布里-珀罗激光二极管以及光电探测器，其中光纤耦合器的四个臂、激光二极管的出射尾纤和光电探测器的输入端光纤均为保偏光纤，由激光二极管产生的线偏振光从光纤耦合器的输入端的一条臂进入光纤耦合器，输出的10%的激光依次通过光纤耦合器的输出端的一条臂和双微透镜结构后形成具有极小束腰半径的高斯光束，将高斯光束中的纳米线定位在束腰半径处，所述的光电探测器与光纤耦合器的输入端的另一条臂连接，所述的光纤耦合器的输出端的另一条臂与浸入在液浸装置中；

所述的激光二极管产生的激光中心波长从785 nm到2000 nm；所述的保偏光纤耦合 器为2×2类型，中心波长为780nm、1064nm、1310nm和1550nm，分光比为50:50、75:25、90:10 或99:1，具有双向耦合特性及2.0 mm 窄键FC/APC接头；所述的保偏光纤的工作波长范围是350nm-2200nm，具有熊猫型或者蝴蝶结型应力棒；

所述的双微透镜结构利用支撑构件固定在光纤端面前方，双微透镜中微透镜一中 心、微透镜二中心和保偏光纤的中心三者共线，微透镜一和微透镜二的凸面相对；

所述的微透镜一的数值孔径为0.15，焦距为5.00mm，外径为2.00mm，工作距离为4.37mm；微透镜二的数值孔径为0.58，焦距为1.45mm，外径为2.40mm，工作距离为0.81mm；

所述的一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置，其特 征在于：所述的光纤端面与微透镜一的距离为4.44mm，微透镜一与微透镜二的间距为 3.3mm。

2. 根据权利要求1所述的一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置，其特征在于：所述的激光二极管产生的激光中心波长为1550nm，保偏光纤耦合器中心波长为1550nm，分光比为90:10，保偏光纤的工作波长为1550nm，具有熊猫型应力棒。