[发明专利]导电体断路位置检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种导电体断路位置检测装置及检测方法。

背景技术

导电体断路是导电体失效的一种常见的形式，如电感器断路。目前检查导电体断路的方式有：脉冲、显微镜观察法、X射线检查法等。脉冲法测试断路位置是通过脉冲电流延电线传输，在断路点发生反射，脉冲电流的反馈时间和电磁波的传播速度的乘积，可以确定断路点的位置。但是脉冲法普遍用来测试长距离输送线路的断路点位置，不适用于短距离的导电体断路点的检测。显微镜观察法是通过放大断路位置的缝隙来确定断路的位置，当通常用来分析PCB板表面导电体断路的情况，而对于LTCC(低温共烧陶瓷)电子元件内部断路的情况，由于有陶瓷或铁氧体等固体物质遮挡，难以用显微镜直接观测到内部断路。X射线探伤机是通过X射线透射原理，观测电子元件电极断路情况。但只有导电体断路很明显时，X射线才容易观测到断路点。在断路缝隙很小时，X射线探伤机由于受分辨率的限制，很难观测到断路缝隙。

发明内容

基于此，本发明提供一种能够方便、准确检测导电体断路位置的检测装置。

此外，还提供一种导电体断路位置的检测方法。

一种导电体断路位置检测装置，包括：

电场检测模块，所述电场检测模块用于检测并获取待测导电体周围的电场分布数据；

活动工作台，所述活动工作台用于放置所述待测导电体，并带动所述待测导电体做平移运动、旋转运动或上下升降运动。

在其中一个实施例中，所述电场检测模块包括探测单元和探测数据生成单元；

所述探测单元用于对电场强度和/或方向的分布情况做出动作反应；

所述探测数据生成单元用于将所述探测单元的动作反应转化成数字信号，并对转化后的数字信号进行存储和处理。

在其中一个实施例中，所述探测单元包括一端设置有带电体的探针。

在其中一个实施例中，所述带电体为带电球体。

在其中一个实施例中，所述带电球体为带电金属球或石墨球。

在其中一个实施例中，所述带电体外表面包裹有绝缘层。

在其中一个实施例中，所述探测数据生成单元包括与所述探针固定连接的弹性连杆、与所述弹性连杆固定连接的光线反射面、和光探测器；

所述光探测器包括光发射器和光接收器；

所述光接收器用于接收由光发射器发出的，然后经过所述光线反射面反射后的光斑，并与初始光斑位置进行比较生成光线位移的数字信号，然后输出。

在其中一个实施例中，还包括测试电源，所述测试电源用于给所述导电体的两端之间提供电压，和/或为电场检测模块提供电源。

上述检测导电体断路的装置，通过设置电场检测模块和活动工作台，并通过活动工作台控制两端施加电压的导电体与电场检测模块保持一定距离做平移和/或旋转运动。能够通过活动工作台的移动使被测导电体与电场检测模块中的探测单元作相对运动，从而避免移动探测单元时由于惯性力导致的误差。

一种检测导电体断路位置的方法，包括：

将被测导电体的两端施加一电压；

检测并获取所述被测导电体周围的电场强度和/或方向的分布数据；

根据获取的所述分布数据判断所述被测导电体断路的位置。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

控制所述被测导电体与电场检测模块保持固定距离；

根据所述被测导电体的类型和形状，控制所述被测导电体作平移和/或旋转运动。

上述检测导电体断路位置的方法，通过将被测导电体的两端施加一电压，检测并获取被测导电体周围的电场强度和/或方向的分布数据，能够根据获取的所述分布数据实现简单快捷的判断所述被测导电体断路的位置。

附图说明

图1为一实施例提供的检测导电体断路的装置结构示意图；

图2为一实施例提供的检测导电体断路的检测方法流程图。

附图标记说明：100.电场检测模块；110.探针；120.弹性连杆；130.光反射面；140.光检测器；200.活动工作台；300.待测导电体。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。