[发明专利]测量平台装置

说明书

本发明公开了一种测量平台装置，其包含：一下基座、一滑动座，该下基座与滑动座间的第一、二滑块皆以相叠立式相接触，当结构受力下压时，能通过第一、二滑块间立式相叠而增加结构安装接触面，同时避免分力力矩产生，确实达到滑动测量的效果，且受力时还通过第一、二滑块的刚性保有其滑移的稳定性，大幅提升结构的准确度及耐用性。

技术领域

本发明涉及测量平台技术领域，尤指一种微调偏移测量平台装置。

背景技术

习知的微调平台装置被广泛地运用于各种自动化精密加工的定位、加工与测试场合上，并能搭配各种光学元件或检测仪器，以能够进行高精密度的测量或检验作业。目前常见微调平台装置，请同时参阅图13、图14所示，其主要具有一基座40与一偏移座50，该基座40两侧皆具有一长条型的凹陷区41，二长条型的凹陷区41内侧皆具有一阶梯状的凸面42，并皆提供一第一滑块43固接于该凸面42上，又该基座40中央处形成一具有容置区的凸肋44，该偏移座50概呈一矩形板体，其中央处形成一滑槽51，再由滑槽51两侧皆设有一阶级状的凸起面52，并皆提供一第二滑块53固接于该阶级状的凸起面52上，借此将该偏移座50的滑槽51对应组设于基座40的凸肋44，使偏移座50得以平移于基座40，且该第二滑块53与该第一滑块43水平并接设置，更于该第一滑块43与该第二滑块53间于相面对侧各设有一滑动件60，借以构成一种测量平台装置。

详观上述习知结构不难发觉其尚存有不足之处，主要原因是归于如下：习知测量平台的基座40及偏移座50间的第一、二滑块43、53以平行并列方式配置，且该第一滑块43仅以底侧及一旁侧与基座40形成Ｌ面的安装接触，而该第二滑块53则仅以顶侧及一旁侧与偏移座50形成Ｌ的安装接触，当偏移座50受力下压时，该一、二滑块43、53容易产生向外分力的力矩，导致第一、二滑块43、53间的滑移效果不佳，进而影响偏移座50滑动于基座40上的稳定性及顺畅度，同时降低测量准确性。

有鉴于此，本发明人于多年从事相关产品的制造开发与设计经验，针对上述的目标，详加设计与审慎评估后，终得一确具实用性的本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能确实达到滑动测量的效果及大幅提升结构的准确度及耐用性的测量平台装置。

基于此，本发明主要采用下列技术手段，来实现上述目的。

一种测量平台装置，包含：一下基座，上表面具有二相平行的第一容槽，以及一介于二第一容槽间且相互平行的结合槽，二第一容槽内皆固设有一第一滑块，该下基座的结合槽的前、后端皆设有一X轴止挡块，于下基座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第一限位滑座滑动限制于下基座的导引轨杆上；一滑动座，下表面具有二相平行的第二容槽，以及一介于二第二容槽间且相互平行的下导槽，二第二容槽与下基座的二第一容槽同方向且相面对，于二第二容槽内分别固设一第二滑块，并相对叠置于二第一滑块上方，且二第二滑块与二第一滑块间分别设有至少一滑动件，该滑动座的下导槽往下嵌覆于一第一限位滑座及二X轴止挡块外，通过多个锁合件由上表面贯穿滑动座与该第一限位滑座锁接连接。

进一步，所述第一、二滑块的表面端皆设有锥槽，通过锥槽相夹合滑设所述第一、二滑块间的滑动件。

进一步，该下基座的导引轨杆两侧对称设有轨槽，该第一限位滑座底部皆对应下基座的导引轨杆设有一轨道，第一限位滑座滑动组设于对应的下基座的导引轨杆上。

进一步，该滑动座的上表面还具有二相平行的第三容槽，以及一介于二第三容槽间且相互平行的结合槽，二第三容槽方向与二第二容槽方向互呈交错状，并皆固设有一第三滑块，该滑动座的结合槽的前、后端皆设有一Y轴止挡块，于滑动座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第二限位滑座滑动限制于滑动座的导引轨杆上。