[发明专利]一种用于热释光剂量仪的校准装置在审

专利信息
申请号: 201711220306.8 申请日: 2017-11-29
公开(公告)号: CN107884813A 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 陈洁;张庆威;徐静;刘福至;马刚 申请(专利权)人: 中核控制系统工程有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T1/11
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 张雅丁
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 热释光 剂量 校准 装置
【说明书】:

技术领域

发明属于热释光测量技术领域,具体涉及一种用于热释光剂量仪的校准装置。

背景技术

热释光元件经过放射性辐照(β、γ、X射线、中子等)后,将吸收的能量储存起来,在对其加热时以光的形式将吸收的能量释放出来,其发出的光信号和剂量成线性关系,这就是热释光测量技术的基本原理。由于该技术具有测量范围宽、精度高、线性好、携带方便、可重复使用等优点,现已广泛应用于个人和环境剂量监测、事故剂量确定、医疗卫生、地质考古等领域。

热释光读出器就是根据热释光测量原理设计的剂量读出仪器,可以对经过β、γ、中子或X射线等辐照后的热释光剂量元件进行测量,读出累积剂量。

热释光读出器中为了确保测量的光信号能够准确地反应热释光剂量计的吸收剂量,从而准确地反应个人或环境所吸收的辐射剂量,因此对测量准确性和稳定性有较高的要求。但在长期工作中,探测器中的光电倍增管和仪器内部电路会引起灵敏度变化和零点漂移,从而影响测量准确性和稳定性。

因此亟需研发、设计一种用于热释光剂量仪的校准装置,对测量光进行校准,标准光源即能够长时间发出稳定光的光源,选用发光效果近似于热释光剂量计经过加热后发出光的光源即可对热释光进行校准。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种用于热释光剂量仪的校准装置,采用标准光源实时的对测量过程进行校准。

为了实现这一目的,本发明采取的技术方案是:

一种用于热释光剂量仪的校准装置,包括主体,显示屏,键盘,抽屉,热释光探测器,手柄,测量盘,校准光源;

主体为本装置的整体外形结构;

显示屏用于显示本装置的状态,包括当前参数及测量值;

键盘用于输入本装置设定参数及设置日期;

抽屉为本装置的主体功能部分,抽屉的前端和后端分别开设一个槽,分别用于放置测量盘和标准光源,测量盘用于放置待测量热释光剂量计;

热释光探测器置于抽屉的上方,固定于热释光读出器的内部;

抽屉推入时测量盘正对热释光探测器,对放入测量盘内的热释光剂量计进行加热后测量其发光;

抽屉拉出时校准光源正对热释光探测器,进行标准光源测量;

热释光探测器对标准光源及测量光分时进行测量,经后续电路及程序处理后得到标准光源或测量剂量;

手柄用于拉推抽屉;

在拉出抽屉时,本装置自动测量标准光源并与之前参数的设定值进行对比,当对标准光源的测量在设定范围以内时,推入抽屉后对热释光剂量计正常测量并通过计算导出测量值;

当对标准光源的测量超出设定范围时,通过算法拟合对测量值进行系数校准,得出当前条件下准确的测量值。

本发明技术方案的有益效果在于:本方案设计实现了测量过程的避光要求,并保证了热释光探头对剂量计和标准光源的同等条件测量。

本方案中修正了仪器长期工作中由于光电倍增管和电路引起的灵敏度变化和零点漂移所导致的测量误差,从而提高了测量的准确性、稳定性。

本方案实现了对剂量计和标准光源测量过程的相对独立性及时间的交叉性,提高了测量的高效性。

附图说明

图1为本发明结构侧视图;

图2为本发明结构主视图。

图中:主体1,显示屏2,键盘3,抽屉4,热释光探测器5,手柄6,测量盘7,校准光源8。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明技术方案进行详细说明。

如图1和图2所示,本发明一种用于热释光剂量仪的校准装置,包括主体1,显示屏2,键盘3,抽屉4,热释光探测器5,手柄6,测量盘7,校准光源8;

主体1为本装置的整体外形结构;

显示屏2用于显示本装置的状态,包括当前参数及测量值;

键盘3用于输入本装置设定参数及设置日期;

因为对热释光剂量计的发光测量要求完全的避光,防止一切环境光对测量值的影响,因此本方案采用长抽屉设计,抽屉4为本装置的主体功能部分,抽屉的前端和后端分别开设一个槽,分别用于放置测量盘7和标准光源8,测量盘7用于放置待测量热释光剂量计;

热释光探测器5置于抽屉4的上方,固定于热释光读出器的内部;

抽屉4推入时测量盘7正对热释光探测器5,对放入测量盘7内的热释光剂量计进行加热后测量其发光;

抽屉4拉出时校准光源8正对热释光探测器5,进行标准光源8测量;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中核控制系统工程有限公司,未经中核控制系统工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711220306.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top