[发明专利]光学指纹识别方法、装置及电子设备

说明书

本申请提出一种光学指纹识别方法、装置及电子设备，该方法包括：检测当前环境的第一光照强度，将第一光照强度与预设的第一阈值进行比较；若比较获知第一光照强度大于第一阈值，则根据预设的第一调整算法对第一光照强度进行计算，获取进行光学指纹识别的第二光照强度；将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为第二光照强度进行光学指纹识别。由此，能够针对不同光照强度环境，适应性调整光学指纹模组中光源强度，保证了不同光照强度环境下获取指纹图像的一致性，提高了光学指纹识别的准确性。

技术领域

本申请涉及指纹识别技术领域，尤其涉及一种光学指纹识别方法、装置及电子设备。

背景技术

光学指纹技术通常采用终端设备屏幕作为发光主体，通过光路照射到指纹，返回的光线再通过屏幕返回到屏幕下的图像传感器，终端设备针对返回的图像与数据库进行分析对比，最终识别指纹。

然而，光学指纹的成功应用与光的作用密切相关，特别强光环境下，尤其是太阳光直射之下，光学指纹识别难度较大。

发明内容

本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本申请提出一种光学指纹识别方法、装置及电子设备，能够解决不同环境下光照强度变化时，获得的指纹图像不一致性，从而对指纹识别造成影响的问题。

本申请第一方面实施例提出的光学指纹识别方法，包括：检测当前环境的第一光照强度，将所述第一光照强度与预设的第一阈值进行比较；若比较获知所述第一光照强度大于所述第一阈值，则根据预设的第一调整算法对所述第一光照强度进行计算，获取进行光学指纹识别的第二光照强度；将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为所述第二光照强度进行光学指纹识别。

本申请第一方面实施例提出的光学指纹识别方法，通过检测当前环境的第一光照强度，并将第一光照强度与预设的第一阈值进行比较，在比较获知第一光照强度大于第一阈值时根据预设的第一调整算法对第一光照强度进行计算获取进行光学指纹识别的第二光照强度，从而将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为第二光照强度进行光学指纹识别。由此，能够针对不同光照强度环境，适应性调整光学指纹模组中光源强度，保证了不同光照强度环境下获取指纹图像的一致性，提高了光学指纹识别的准确性。

本申请第二方面实施例提出的光学指纹识别装置，包括：检测比较模块，用于检测当前环境的第一光照强度，将所述第一光照强度与预设的第一阈值进行比较；第一计算获取模块，用于若比较获知所述第一光照强度大于所述第一阈值，则根据预设的第一调整算法对所述第一光照强度进行计算，获取进行光学指纹识别的第二光照强度；第一调整模块，用于将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为所述第二光照强度进行光学指纹识别。

本申请第二方面实施例提出的光学指纹识别装置，通过检测当前环境的第一光照强度，并将第一光照强度与预设的第一阈值进行比较，在比较获知第一光照强度大于第一阈值时根据预设的第一调整算法对第一光照强度进行计算获取进行光学指纹识别的第二光照强度，从而将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为第二光照强度进行光学指纹识别。由此，能够针对不同光照强度环境，适应性调整光学指纹模组中光源强度，保证了不同光照强度环境下获取指纹图像的一致性，提高了光学指纹识别的准确性。

本申请第三方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行一种光学指纹识别方法，所述方法包括：检测当前环境的第一光照强度，将所述第一光照强度与预设的第一阈值进行比较；若比较获知所述第一光照强度大于第一阈值，则根据预设的第一调整算法对所述第一光照强度进行计算，获取进行光学指纹识别的第二光照强度；将光学指纹模组中光源的预设参考强度调整为所述第二光照强度进行光学指纹识别。