[发明专利]一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统在审
申请号: | 201711193869.2 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107861051A | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 陈小波 | 申请(专利权)人: | 江苏力德尔电子信息技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司32252 | 代理人: | 戴朝荣 |
地址: | 226010 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 单片机 通用型 精密 阻抗 测试 系统 | ||
1.一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:包含单片机芯片、AD转换电路、通道切换板、网口电路、电源电路和液晶显示器,单片机芯片为系统的核心,通道切换板与待测FPC连接用于切换不同的通道对FPC产品上需要测试测试点进行阻抗测试,AD转换电路与通道切换板和单片机芯片连接用于将通道切换板模拟信号转化为数字信号传输给单片机芯片,网口电路与上位机和单片机芯片连接用于从上位机将产品点位图以数组的方式传输至ARM芯片,电源电路与单片机芯片连接用于系统供电,液晶显示器与单片机芯片连接用于显示测试数据以及测试结果。
2.按照权利要求1所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:所述单片机芯片采用STM32F103VCT6芯片U1,U1的67脚与蜂鸣器LS1负极连接,蜂鸣器LS1正极接+3.3V电源,U1的6、50、75、100、28、11脚接+3.3V电源,U1的49、74、99、27、10脚接地。
3.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:所述网口电路包含W5500芯片U2和AMS1117-3.3芯片U3,U2的1、2、12脚接地,U2的3、4、5、6、7、8脚分别连接U1的32、30、33、35、31、34脚,U2的10、11脚连接电感L1一端、电容C32一端、电阻R3一端,电阻R3另一端连接发光二极管D1阳极,电感L1另一端连接U3的2脚、电容C31的一端,U3的3脚连接电容C28一端和电源+5V,发光二极管D1阴极、电容C32另一端、电容C31另一端、电容C28另一端和U3的1脚接地。
4.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:所述电源电路包含TPS54331DR芯片U20和AMS1117-3.3芯片U19,电容C43、C44、C45一端和电阻R42一端、U20的2脚接+24V电源,电阻R42另一端接电阻R44一端和U20的3脚,U20的4脚连接电容C48一端,U20的5脚连接电阻R43一端和电阻R40一端,U20的6脚连接电容C49、C50一端,电容C50另一端连接电阻R45一端,电阻R45另一端、电容C49另一端、电容C48另一端、电阻R44另一端、电容C43另一端、电容C44另一端和电容C45另一端接地,U20的7脚接地并连接二极管D25阳极、电容C46一端、电容C47一端和电阻R43另一端,电阻R40另一端、电容C46另一端、电容C47另一端和电感L4一端连接+5V电源,电感L4另一端连接二极管D25阴极、U20的8脚和电容C42一端,电筒C42另一端连接U20的1脚。
5.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:所述AD转换电路包含INA122P芯片U12和LM358芯片U22,U12的1脚连接电阻R9一端,电阻R9另一端连接电阻R8一端和电阻R10一端,电阻R8另一端和电阻R10另一端连接U12的8脚,U12的2脚连接电阻R16一端,电阻R16另一端连接电阻R21一端,U12的3脚连接电阻R17一端,电阻R17另一端连接电阻R22一端,电阻R21和电阻R22另一端接地并连接U12的4、5脚和电容C37一端,电容C37另一端接电源+5V和U12的7脚,U12的6脚连接U22的3脚,U22的1、2脚连接电阻R18一端,电阻R18另一端接地,U22的4脚接-5v电源,U22的8脚接+5V电源。
6.按照权利要求2所述的一种基于单片机的通用型精密阻抗测试系统,其特征在于:所述U1上还连接有SWD电路、液晶接口电路、flash电路和复位电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏力德尔电子信息技术有限公司,未经江苏力德尔电子信息技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711193869.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种利用矢量网络分析仪进行在片测试的方法
- 下一篇:一种电路板测试箱