[发明专利]天线检测方法、装置及终端

权利要求书

1.一种天线检测装置，其特征在于，包括：

检测电路，用于检测测量参数并将所述测量参数输出至处理模块，其中，所述测量参数用于标识天线上的馈点接触弹片后产生的馈点接触阻抗；

处理模块，连接所述检测电路，用于在根据所述测量参数确定所述馈点接触阻抗大于预设阻抗时，输出提示信息，其中，所述提示信息用于提示弹片与天线上的馈点之间接触不良，所述预设阻抗包括所述天线所在终端可接受的馈点接触阻抗。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测电路包括检测子电路和监测子模块；其中：

所述检测子电路包括第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的一端连接电源电压，所述第一电阻的另一端通过串联所述第二电阻接地，所述弹片连接位于所述第一电阻和所述第二电阻之间连接点；

所述监测子模块的监测端连接所述检测子电路，所述监测子模块的输出端连接所述处理模块，所述监测子模块用于监测所述测量参数，并将监测到的所述测量参数输出至所述处理模块。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述监测子模块的监测端连接所述连接点，其中：

所述监测子模块，用于监测所述连接点处的电压值。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述处理模块包括：

获取子模块，用于根据所述电压值获取所述馈点接触阻抗。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述处理模块包括：

第一确定子模块，用于在所述电压值大于预设电压时，确定所述馈点接触阻抗大于预设阻抗。

6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述监测子模块的监测端连接在所述第一电阻与所述电源电压之间，其中：

所述监测子模块，用于监测通过所述第一电阻的电流；

所述处理模块包括：

第二确定子模块，用于根据所述电流确定所述馈点接触阻抗是否大于预设阻抗。

7.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一电阻的阻值大于第一预设值，所述第二电阻的阻值大于所述第二预设值。

8.一种终端，其特征在于，包括权利要求1至7所述的装置。

9.一种天线检测方法，其特征在于，应用于权利要求8所述的终端，包括：

获取测量参数，其中，所述测量参数用于标识天线上的馈点接触弹片后产生的馈点接触阻抗；

在根据所述测量参数确定所述馈点接触阻抗大于预设阻抗时，输出提示信息，其中，所述提示信息用于提示弹片与天线上的馈点之间接触不良，所述预设阻抗包括所述天线所在终端可接受的馈点接触阻抗。

10.一种天线检测装置，其特征在于，应用于权利要求8所述的终端，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取测量参数，其中，所述测量参数用于标识天线上的馈点接触弹片后产生的馈点接触阻抗；

在根据所述测量参数确定所述馈点接触阻抗大于预设阻抗时，输出提示信息，其中，所述提示信息用于提示弹片与天线上的馈点之间接触不良，所述预设阻抗包括所述天线所在终端可接受的馈点接触阻抗。

11.一种计算机可读存储介质，存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现以下步骤：

获取测量参数，其中，所述测量参数用于标识天线上的馈点接触弹片后产生的馈点接触阻抗；

在根据所述测量参数确定所述馈点接触阻抗大于预设阻抗时，输出提示信息，其中，所述提示信息用于提示弹片与天线上的馈点之间接触不良，所述预设阻抗包括所述天线所在终端可接受的馈点接触阻抗。