[发明专利]一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法

权利要求书

1.一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，包括以下步骤：

S1、将平板玻璃固定在检查台，采用AOI设备检测平板玻璃上的颗粒物(3)，根据AOI设备检测的图像中颗粒物(3)的坐标，在平板玻璃上确定颗粒物(3)的初步位置；

S2、在暗场条件下采用光源倾斜照射所述初步位置，寻找初步位置的颗粒物(3)，所述颗粒物(3)为对比度小于1000的亮点；

移动光源的照射角度，根据颗粒物影子的尺寸以及颗粒物影子与颗粒物(3)是否重合，确定颗粒物(3)位于平板玻璃的下表面或上表面；

若颗粒物影子的尺寸大于颗粒物(3)，且与颗粒物(3)部分重合，则颗粒物(3)接近平板玻璃的下表面；

若颗粒物无影子或影子小于颗粒物(3)且与颗粒物(3)不重合，则颗粒物(3)接近平板玻璃上表面；

所述光源倾斜照射的角度为5°～70°；

S3、对步骤S2中的颗粒物(3)进行位置标定；

S4、将所述步骤S3中的标定的位置进行切割，切割取样时，在平板玻璃的颗粒物(3)位置的两侧贴附PE膜(6)后进行切割，提取平板玻璃样品(8)。

2.根据权利要求1所述一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，在步骤S1中所述初步位置的确定方法为，采用量具在平板玻璃上确定所述坐标的位置，并以该坐标位置为中心在平板玻璃的表面标定一个直径为10mm的圆。

3.根据权利要求1所述一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，所述光源为15-20K Lux LED灯。

4.根据权利要求1所述一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，在所述步骤S3中，位置标定的方法为以颗粒物(3)为中心标定一个直径为0.5mm的圆。

5.根据权利要求1所述一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，所述平板玻璃样品(8)的尺寸为(20～30)mm×(20～30)mm。