[发明专利]多晶熔丝预修调电路

说明书

多晶熔丝预修调电路，涉及集成电路，本发明包括：选择器，其第一输入端接第三反向器输出端，其第二输入端接第一反向器输出端，开关器件，其第一输入端接信号输入端，其第二输入端接控制信号端，其输出端接第一MOS管的栅极；第一MOS管，其电流输入端接第一参考点，其电流输出端接地；第一电流源单元，其电流输入端接第一参考点，其电流输出端接地；以及第一反相器，第二反相器，第三反相器。本发明完全避免了封装应力的影响，最大限度保证批量修调的参数一致性。

技术领域

本发明涉及集成电路，特别涉及12位以上高精度A/D、D/A转换器类电路。

背景技术

高精度A/D转换器，可将其量程内的任意模拟信号电平转换为其唯一对应的数字码字输出，其转换输出结果可作为操作指令直接控制整机系统进行相应操作。

高精度D/A转换器，可将其量程内任意的数字输入码字转换为其唯一对应的模拟信号输出，其转换输出结果可作为操作指令直接控制整机系统进行相应操作。

由上可知，针对高精度A/D、D/A类转换器，其转换结果的唯一性将会直接影响整机系统的操作正确性。

为确保整机系统操作的正确性，通常整机系统均会提供一定范围内的容错机制，确保A/D、D/A类转换器的输出结果在小范围波动时，整机系统仍然能进行正常操作。

因此要求在A/D、D/A类转换器产品设计时，该类转换器的功能参数均需达到某一指定精度范围。但在芯片工艺厂商的批量制作过程中，因工艺波动以及工艺匹配精度限制，再加上管壳封装时，封装应力的不确定性，导致在无任何校准措施时，目前主流的工艺厂商均很难满足12位以上精度的A/D、D/A类转换器要求。

为确保整机应用环境要求，需要进一步提高批量生产时，A/D、D/A类转换器的转换精度批量一致性。为保证批量一致性，需要对转换器电路的全静态参数实现单只电路校准功能，目前单只电路校准手段通常包括芯片内部电参数动态自动校准技术和芯片测试时激光修调动态校准两个大类。

芯片内部电参数动态自动校准技术通过采样输出误差值，进行一定的运算后，返回信号输入端，虽可提高最终转换精度，但该方案需要增加非常复杂的算法方案，且精度提高范围有限，因此在应用于超高精度转换器时，批量一致性仍然较差。

芯片测试时激光修调动态校准技术目前主流方案分为两种，分别为金属薄膜电阻修调和铝熔丝修调方案。上述两种方案均可实现单只电路修调，且可保证非常高的批量修调后参数精度一致性。但无论是薄膜电阻还是铝熔丝修调方案，均需要在裸芯片测试阶段完成(条件允许可在管壳封帽前再次校准)，但无论是芯片封装还是管壳封帽，均会引入封装应力，导致芯片内电阻、电容值随机偏移，从而在成品电路中引入随机的漂移量，因此上述两种修调方案的成品电路中仍然存在一定的参数批量不一致性。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是，为保证批量产品的参数一致性，在实现单只电路全参数可修调的情况下，最大限度提高修调效率，节约生产成本。

本发明解决所述技术问题采用的技术方案是，多晶熔丝预修调电路，包括下述部分：

选择器S，其第一输入端接第三反相器输出端，其第二输入端接第一反相器输出端，其输出端作为预修调电路输出端；

开关器件M1，其第一输入端接信号输入端VIN，其第二输入端接控制信号端EN，其输出端接第一MOS管的栅极；

第一MOS管NMOS1，其电流输入端接第一参考点B，其电流输出端接地；

第一电流源单元I1，其电流输入端接第一参考点，其电流输出端接地；

第一反相器INV1，其输入端接第一参考点，其输出端接选择器S的第二输入端；

第二反相器INV2，其输入端接使能信号输入端，其输出端接第三反相器的输入端；