[发明专利]光纤陀螺Y波导集成调制器芯片及集成方法在审
申请号: | 201711177943.1 | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN107976740A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 刘华成 | 申请(专利权)人: | 重庆鹰谷光电股份有限公司 |
主分类号: | G02B6/125 | 分类号: | G02B6/125 |
代理公司: | 昆明合众智信知识产权事务所53113 | 代理人: | 张玺 |
地址: | 400000 重*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 陀螺 波导 集成 调制器 芯片 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光纤陀螺仪领域,特别是涉及光纤陀螺Y波导集成调制器芯片及集成方法。
背景技术
传统的光纤陀螺系统中,发光二极管、光耦合器、光电探测器、Y波导调制器和光纤环等均是各个单元分立设置,分别封装,各个器件之间使用光纤熔接机进行熔接,导致熔接点多,工序多且复杂,同时造成耦合效率低,易出现故障,整体体积大,集成度不高,环境适应性和可靠性较差。光耦合器也是使用熔融拉锥的方式完成,十分脆弱,可靠性较低,其技术平台也决定其体积较大。
发明内容
针对上述现有技术中的不足之处,本发明旨在提供光纤陀螺Y波导集成调制器芯片及集成方法,将光耦合功能和Y波导调制功能集成在同一铌酸锂基底上,采用平面光波导技术完成,用刻蚀的方式形成锥槽区,与各零件之间直接耦合,减小体积的同时提高可靠性,提高系统集成度。
为实现上述目的,本发明的技术方案:光纤陀螺Y波导集成调制器芯片,包括用于集成光耦合和Y波导调制的铌酸锂基底,所述铌酸锂基底表面具有第一锥槽、第二锥槽、第三锥槽、第四锥槽、第五锥槽,所述第一锥槽、第二锥槽连接至第三锥槽,所述第三锥槽分别连接第四锥槽、第五锥槽,所述第四锥槽、第五锥槽两侧分别设有电极片,所述铌酸锂基底表面设有一层SiO2薄膜。
一种光纤陀螺Y波导集成调制器芯片集成方法,包括如下步骤:
S1:按照芯片图形设计,切割出铌酸锂基底;
S2:在所得的铌酸锂基底上通过光刻、刻蚀工艺分别制得第一锥槽、第二锥槽、第三锥槽、第四锥槽、第五锥槽;
S3:通过化学气相沉积工艺在铌酸锂基底表面制得一层SiO2薄膜;
S4:通过光刻和刻蚀工艺在铌酸锂基底上制作出介质膜;
S5:置于超过200℃的高温下,在掺有苯甲酸锂的苯甲酸熔液中进行质子交换;
S6:置于350℃的氧气环境下进行退火;
S7:在第四锥槽、第五锥槽两侧通过镀模工艺制得电极,安装起偏装置、检偏装置;
S8:退火,消光打磨得到集成芯片。
本发明的有益效果:与现有技术相比,本发明光纤陀螺Y波导集成调制器芯片及集成方法,通过将光耦合器和Y波导集成调制器集成到一个芯片上,耦合点减少,对外的光接口简单,系统体积小,集成度提高,可靠性加强,制作工艺控制容易,维护简单。
附图说明
图1是本发明的结构示意图;
图2是本发明使用示意图。
附图中1-铌酸锂基底;301-第一锥槽;302-第二锥槽;305-第三锥槽;306-第四锥槽;307-第五锥槽。
具体实施方式
下面结合具体实施例及附图来进一步详细说明本发明。
如图所示,本发明光纤陀螺Y波导集成调制器芯片及集成方法,主要包括用于集成光耦合和Y波导调制的铌酸锂基底1,所述铌酸锂基底1表面具有第一锥槽301、第二锥槽302、第三锥槽305、第四锥槽306、第五锥槽307,所述第一锥槽301、第二锥槽302连接至第三锥槽305,所述第三锥槽305分别连接第四锥槽306、第五锥槽307,所述第四锥槽306、第五锥槽307两侧分别设有电极片,所述铌酸锂基底1表面设有一层SiO2薄膜,该SiO2薄膜与所述锥槽之间留有一定的空隙,使光信号能更好的传输。
具体的,所述第四锥槽306、第五锥槽307周围设有起偏装置、检偏装置,实现对光信号的起偏、检偏功能。
具体的,所述第一锥槽301外接超辐射发光二极管,所述第二锥槽302外接光电探测器,所述第四锥槽306、第五锥槽307外接光纤环,均采用光纤耦合的方式连接。
具体的,超辐射发光二级管发出的光通过第一锥槽301进入第三锥槽305后分束,平分为两路,两路光经过光纤环回到第三锥槽305合束,再经过第二锥槽302,其中有一路光分出进入光电探测器。其中,所述第一锥槽301、第二锥槽302、第三锥槽305实现光耦合器的光合束、分束功能,所述第三锥槽305、第四锥槽306、第五锥槽307加上电极、起偏装置、检偏装置实现Y波导调制功能。
具体的,一种光纤陀螺Y波导集成调制器芯片集成方法,包括如下步骤:
S1:按照芯片图形设计,切割出铌酸锂基底1;
S2:在所得的铌酸锂基底1上通过光刻、刻蚀工艺分别制得第一锥槽301、第二锥槽302、第三锥槽305、第四锥槽306、第五锥槽307;
S3:通过化学气相沉积工艺在铌酸锂基底1表面制得一层SiO2薄膜;
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