[发明专利]透照构件的X射线检测方法

说明书

本发明涉及一种透照构件的X射线检测方法，包括以下步骤：确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果，可以使得待检测区域通过一次透照即可查出各部位的缺陷，另外，即使单个待检测构件存在多种厚度，也不必采用多种工艺，有助于简化无损检测的过程，节约时间和材料成本，提高工作效率。

技术领域

本发明涉及透照构件检测方法，特别是涉及一种透照构件的X射线检测方法。

背景技术

在高速列车、汽车零部件、航空航天以及风电行业中常常存在大量的精密铸造及锻造的复杂构件，为了满足安全要求，必须对这些零件进行无损检测。经过多年技术积累，X射线检测方法应用最为广泛，通常分为X射线胶片法和数字成像法，数字成像法虽然具有成像快捷、图像灰度范围大等优点，但因其成像板价格昂贵、穿透力受限，在复杂构件变截面的检测中无法广泛应用。

胶片法由于成本较低、分辨率高以及柔性好等优点在核电、高铁等领域被广泛应用，传统技术中所用的X射线检测法采用单胶片成像，对于一个零件上的同一个厚度，采用一种固定的电压、电流或曝光时间进行检测，一张胶片上的影像反映的是在透照方向上相同厚度的产品影像。

然而，有些复杂构件可能存在变截面或阶梯截面，也可能带有加强筋，还有些复杂构件含有气孔、夹渣、疏松、缩孔和裂纹等不同的缺陷，在X射线透照方向上厚度变化范围大，此时采用单胶片成像时，对于同一个零件上的不同厚度，必须选择不同的电压、电流和透照时间，单个零件上存在几种厚度就需要选择几种工艺，非常繁琐，还浪费大量材料和时间，大大降低了工作效率。

发明内容

基于此，有必要针对具有多种厚度的复杂构件无法一次完成透照，显示变截面上不同厚度的影像的问题，提供一种透照构件的X射线检测方法。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种透照构件的X射线检测方法，包括以下步骤：

确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；

将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；

根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；

根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；

将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果。

在其中一个实施例中，在确定待检测区域的最小厚度和最大厚度之前，按照所述待检测构件的厚度差和曲率，将所述待检测构件划分为多个待检测区域，并为每个待检测区域进行编号。

在其中一个实施例中，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：

将至少两张感光度相同的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。

在其中一个实施例中，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：

将至少两张感光度互异的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。

在其中一个实施例中，还包括：

在所述胶片系统加入增感屏。

在其中一个实施例中，所述根据待检测区域的厚度范围和胶片系统确定透照射线检测工艺，包括：

确定射线检测的检测设备及工艺参数。

在其中一个实施例中，所述确定透线检测的检测设备及工艺参数，包括：

确定所述X射线的入射方向。