[发明专利]一种光功率检测方法

说明书

一种光功率检测方法，所述方法包括：在采样点处获取第一采样电压；使用第一采样电压计算获取第一光功率；按照预先设置的间隔，使用第一光功率所属的第一阈值范围所对应的第一检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第二采样电压；使用第二采样电压计算获取第二光功率；如果第二光功率大于所述第一阈值范围的上限，使用第二光功率所属的第二阈值范围所对应的第二检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第三采样电压；其中，所述第一检测电路与所述第二检测电路为不同检测电路；使用第三采样电压计算获取第三光功率。本发明提供了一种可检测大范围光功率的检测方法。

技术领域

本申请涉及光通信领域，尤其涉及一种光功率检测方法。

背景技术

在光通信领域内，光功率是很重要的一个参数，通常所有的光设备都需要进行光功率的采样以及检测。通常可以采用线性化采样的方式进行光功率采样，例如采用AD转换器进行采样。

通常AD转换器采集的是采样点的电压，在保证分辨率的前提下，单个AD转换器的电压采样范围一般是在30mV～3300mV之间，20dBm的范围相当于最大电压值是最小电压值的100倍，即30mV*100＝3000mV，与3300mV接近，即传统的AD转换器对光功率的采样范围一般是在0～20dBm以内，但是对于光开光产品而言，需要的光功率工作范围一般是高于20dBm，通常达到AD转换器采样范围的两倍左右甚至更高。此时仅采用传统的AD转换器采样将不能满足要求，而对数放大器芯片价格又相当昂贵，会大幅提高生产成本，难以满足生产所需。

因此，提供一种可以检测大范围的光功率的检测方法具有重要的意义。

发明内容

为了克服相关技术中存在的问题，本发明提供了一种低成本、大范围的光功率检测方法。

为实现上述目的，本申请采用了如下技术方案：

一种光功率检测方法，所述方法包括：

在采样点处获取第一采样电压；

使用第一采样电压计算获取第一光功率；

按照预先设置的间隔，使用第一光功率所属的第一阈值范围所对应的第一检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第二采样电压；

使用第二采样电压计算获取第二光功率；

如果第二光功率大于所述第一阈值范围的上限，使用第二光功率所属的第二阈值范围所对应的第二检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第三采样电压；其中，所述第一检测电路与所述第二检测电路为不同检测电路；

使用第三采样电压计算获取第三光功率。

可选的，如果使用第三采样电压计算得到的第三光功率大于所述第二阈值范围的上限，使用第三光功率所属的第三阈值范围所对应的第三检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第四采样电压。

可选的，所述第三阈值范围与第一阈值范围相同，且第三检测电路与第一检测电路为同一检测电路。

可选的，在采样点处获取第一采样电压，包括：

所述采样点的第一采样电压是由AD转换器获取的；

所述第一阈值范围、第二阈值范围或者第三阈值范围均在单个所述AD转换器的采样电压对应的光功率范围内。

可选的，使用第一光功率所属的第一阈值范围所对应的第一检测电路，包括：

当第一光功率在第一阈值范围时，所述AD转换器与第一检测电路相接通。

可选的，使用第二光功率所属的第二阈值范围所对应的第二检测电路，包括