[发明专利]一种光功率检测方法

权利要求书

1.一种光功率检测方法，其特征在于，所述方法包括：

在采样点处获取第一采样电压；

使用第一采样电压计算获取第一光功率；

按照预先设置的间隔，使用第一光功率所属的第一阈值范围所对应的第一检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第二采样电压；

使用第二采样电压计算获取第二光功率；

如果第二光功率大于所述第一阈值范围的上限，使用第二光功率所属的第二阈值范围所对应的第二检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第三采样电压；其中，所述第一检测电路与所述第二检测电路为不同检测电路；

使用第三采样电压计算获取第三光功率。

2.根据权利要求1所述的光功率检测方法，其特征在于：

如果使用第三采样电压计算得到的第三光功率大于所述第二阈值范围的上限，使用第三光功率所属的第三阈值范围所对应的第三检测电路，对所述采样点的电压进行等时间间隔采样，得到第四采样电压。

3.根据权利要求2所述的光功率检测方法，其特征在于：

所述第三阈值范围与第一阈值范围相同，且第三检测电路与第一检测电路为同一检测电路。

4.根据权利要求2所述的光功率检测方法，其特征在于，在采样点处获取第一采样电压，包括：

所述采样点的第一采样电压是由AD转换器获取的；

所述第一阈值范围、第二阈值范围或者第三阈值范围均在单个所述AD转换器的采样电压对应的光功率范围内。

5.根据权利要求4所述的光功率检测方法，其特征在于，使用第一光功率所属的第一阈值范围所对应的第一检测电路，包括：

当第一光功率在第一阈值范围时，所述AD转换器与第一检测电路相接通。

6.根据权利要求5所述的光功率检测方法，其特征在于，使用第二光功率所属的第二阈值范围所对应的第二检测电路，包括

当第二光功率大于所述第一阈值范围的上限，且位于第二阈值范围时，所述AD转换器由继电器与第二检测电路相接通。

7.根据权利要求1至6任一项所述的光功率检测方法，其特征在于：

所述第一阈值范围与所述第二阈值范围之间存在部分重合。

8.根据权利要求7所述的光功率检测方法，其特征在于：

所述第一阈值范围是，所述第一光功率所属各个阈值范围中，端点所对应光功率最小的一个。

9.根据权利要求2所述的光功率检测方法，其特性在于：

所述第二阈值范围与所述第三阈值范围之间存在部分重合。

10.根据权利要求1所述的光功率检测方法，其特征在于，

使用第一采样电压计算获取第一光功率，包括，

P0＝A+10log(V/(K*R))；

其中，P0为第一光功率，A为光路中的损耗，K为采样时用的PIN管的电流系数，V为第一采样电压，R为第一检测电路中的电阻。