[发明专利]一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法有效
申请号: | 201711153720.1 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN107860478B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 杨超;王沛;毛建森 | 申请(专利权)人: | 北京长峰科威光电技术有限公司 |
主分类号: | G01J5/06 | 分类号: | G01J5/06 |
代理公司: | 11333 北京兆君联合知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 初向庆<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 100195 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 成像 系统 反射 黑斑 修复 方法 | ||
1.一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)红外成像系统出厂前测试时,当图像出现冷反射黑斑时,针对图像的每一个像素计算其分布参量δi,j,计算方式如下:
δi,j=Xij—Xi,j
其中,Xi,j为探测器输出任一像素的原始数据,Xij为整幅图像的均值;
同时在红外成像系统的存储器中存储所述布参量δi,j,以及此时的温度TS;
(2)红外成像系统出厂前进行非均匀性系数标定时,在红外成像系统的存储器中记录并存储标定时的温度T0;
(3)红外成像系统使用前,开机上电时,先从存储器件中读出存储的所述分布参量δi,j,以及TS、T0,然后进行非均匀校正,记录并存储进行非均匀校正时的温度Tc;
(4)红外成像系统使用过程中,按照预设周期进行非均匀校正,在每个非均匀校正周期内,对每一帧图像的每一个像素进行非均匀校正并存储校正结果;
同时获取每次非均匀校正时的系统温度T,并按以下公式计算出温度相关性系数η:
η=τ[(T-T0)]/[(Ts-T0)-(Tc-T0)/(Ts-T0)]
=τ(T-Tc)/(Ts-T0)
其中:
η:表征冷反射黑斑随温度变化的温度相关性系数;
τ:归一化的冷反射强度-温度增益系数;
T:系统当前温度;
T0:探测器出厂标定时的温度;
Ts:出厂前计算分布参量δi,j时的温度;
Tc:使用前非均匀校正时的温度;
(5)根据步骤(1)得到的布参量δi,j、步骤(4)得到的出温度相关性系数η,对获取的每一帧图像,对其每一个像素(i,j),按以下公式计算出其修复参数Δij:
Δi,j=ηδi,j
(6)对步骤(4)得到的每一帧图像的每一个像素的非均匀校正结果,叠加步骤(5)所得的修复参数Δi,j,最后输出冷反射黑斑修复后的图像。
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