[发明专利]一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法有效

专利信息
申请号: 201711153720.1 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN107860478B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 杨超;王沛;毛建森 申请(专利权)人: 北京长峰科威光电技术有限公司
主分类号: G01J5/06 分类号: G01J5/06
代理公司: 11333 北京兆君联合知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 初向庆<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100195 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 成像 系统 反射 黑斑 修复 方法
【权利要求书】:

1.一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)红外成像系统出厂前测试时,当图像出现冷反射黑斑时,针对图像的每一个像素计算其分布参量δi,j,计算方式如下:

δi,j=Xij—Xi,j

其中,Xi,j为探测器输出任一像素的原始数据,Xij为整幅图像的均值;

同时在红外成像系统的存储器中存储所述布参量δi,j,以及此时的温度TS

(2)红外成像系统出厂前进行非均匀性系数标定时,在红外成像系统的存储器中记录并存储标定时的温度T0

(3)红外成像系统使用前,开机上电时,先从存储器件中读出存储的所述分布参量δi,j,以及TS、T0,然后进行非均匀校正,记录并存储进行非均匀校正时的温度Tc;

(4)红外成像系统使用过程中,按照预设周期进行非均匀校正,在每个非均匀校正周期内,对每一帧图像的每一个像素进行非均匀校正并存储校正结果;

同时获取每次非均匀校正时的系统温度T,并按以下公式计算出温度相关性系数η:

η=τ[(T-T0)]/[(Ts-T0)-(Tc-T0)/(Ts-T0)]

=τ(T-Tc)/(Ts-T0)

其中:

η:表征冷反射黑斑随温度变化的温度相关性系数;

τ:归一化的冷反射强度-温度增益系数;

T:系统当前温度;

T0:探测器出厂标定时的温度;

Ts:出厂前计算分布参量δi,j时的温度;

Tc:使用前非均匀校正时的温度;

(5)根据步骤(1)得到的布参量δi,j、步骤(4)得到的出温度相关性系数η,对获取的每一帧图像,对其每一个像素(i,j),按以下公式计算出其修复参数Δij

Δi,j=ηδi,j

(6)对步骤(4)得到的每一帧图像的每一个像素的非均匀校正结果,叠加步骤(5)所得的修复参数Δi,j,最后输出冷反射黑斑修复后的图像。

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