[发明专利]关于其波束成形行为测试被测设备的测试设备和方法

说明书

本发明公开了一种关于其波束成形行为测试被测设备的测试设备和方法。所述被测设备发射多个波束，所述测试设备包括：天线、分析单元以及多个反射器。此外，所述多个反射器中每一个反射器都被配置成将所述测试设备的所述多个波束中的至少一个波束反射至所述测试设备的所述天线。

技术领域

本发明涉及关于被测设备的波束成形行为测试被测设备的测试设备和测试方法，所述被测设备发射多个波束。

背景技术

通常，在采用多输入多输出(Multiple Input Multiple Output，MIMO)系统(诸如长期演进(Long Term Evolution，LTE)技术)的无线通信应用的数量日益增加的时期，对用于测试应用这种系统且因此发射多个波束的被测设备(特别关于它们的波束成形行为)的测试设备和测试方法的需求日益增长。

US 2008/0056340 A1公开了一种用于测试具有多个天线的无线设备的系统。在该背景下，在电波暗室中，多个天线被放置在被测设备周围。然而，根据所述公开，多个天线的使用是必须的，由于测试设备的复杂度增加和较高的材料消耗而不利地导致用于测试发射多个波束的被测设备的高成本。

因此，需要提供一种用于以最具有成本效益的方式测试发射多个波束的被测设备的测试设备和测试方法。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供一种用于关于被测设备的波束成形行为测试所述被测设备的测试设备，所述被测设备发射多个波束。所述测试设备包括：天线、分析单元以及多个反射器。此外，所述多个反射器中的每一个反射器都配置成将所述被测设备的所述多个波束中的至少一个波束反射至所述测试设备的所述天线。

有利地，所述反射器被平行地布置，这导致所述测试设备的复杂度较低，并因此导致更具成本效益的布置。

根据第一方面的第一优选实现方式，所述天线配置成同时或相继地接收所述多个波束并配置成为所述测试设备的所述分析单元提供由所述被测设备发射的所述多个波束。除此之外，所述分析单元配置成分析所述多个波束。有利地，关于所述多个波束中的每个波束，提供了公共时基，因此，能够以简单且最具成本效益的方式校准所述测试设备、或者所述测试设备的所述分析单元。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述波束的数量等于所述反射器的数量。可替选地，所述波束的数量大于所述反射器的数量。有利地，将材料消耗减少至最低，这导致可能最低的成本。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述测试设备、或者所述分析单元还包括下变频器，所述下变频器配置成在借助于所述分析单元分析所述多个波束之前，对所述多个波束中的每个波束的频率进行下变频。有利地，由于不需要昂贵的波导用以将所述天线连接到所述分析单元，所以进一步减小成本。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述测试设备还包括多个吸收器，所述多个吸收器配置成将所述多个波束中的每个波束彼此分离。有利地，仅由所述被测设备发射的待被研究的波束达到所述测试设备的所述天线，这导致高度准确的测量。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述吸收器的数量大于所述波束的数量。可替选地，所述吸收器的数量等于所述波束的数量。有利地，将材料消耗减少至最低，并且以最具有成本效益的方式使用吸收器。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述测试设备还包括多个吸收器，所述多个吸收器配置成将所述多个波束中的一些波束以组为单位彼此分离。有利地，进一步减少材料的使用。

根据第一方面的另一优选实现方式，所述吸收器的数量小于所述波束的数量。有利地，以最具有成本效益的方式使用吸收器。

根据本发明的第二方面，提供一种用于关于被测设备的波束成形行为测试被测设备的测试方法，所述被测设备发射多个波束，所述测试方法包括以下步骤：借助于多个反射器将所述被测设备的所述多个波束中的至少一个波束反射到参考点，在所述参考点同时或相继地接收所述多个波束，以及分析所述多个波束。