[发明专利]关于其波束成形行为测试被测设备的测试设备和方法

权利要求书

1.一种用于关于被测设备的波束成形行为测试所述被测设备的测试设备，所述被测设备发射多个波束，所述测试设备包括：

天线，

分析单元，所述分析单元连接至所述天线，以及

多个反射器，

其中，所述多个反射器平行布置，

其中，在测试期间，所述多个反射器中的每一个反射器都配置成将所述被测设备的所述多个波束中的至少一个波束反射至所述测试设备的所述天线，

其中，在所述测试期间没有切换时间，并且

其中，使用单次激发以获得所期望的测量结果。

2.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述天线配置成同时或相继地接收所述多个波束并配置成为所述测试设备的所述分析单元提供由所述被测设备发射的所述多个波束，以及

其中，所述分析单元配置成分析所述多个波束。

3.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述波束的数量等于所述反射器的数量，或者

其中，所述波束的数量大于所述反射器的数量。

4.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述分析单元还包括下变频器，所述下变频器配置成在借助于所述分析单元分析所述多个波束之前，对所述多个波束中的每个波束的频率进行下变频。

5.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述测试设备还包括多个吸收器，所述多个吸收器配置成将所述多个波束中的每个波束彼此分离。

6.根据权利要求5所述的测试设备，

其中，所述吸收器的数量大于所述波束的数量，或者

其中，所述吸收器的数量等于所述波束的数量。

7.根据权利要求1所述的测试设备，

其中，所述测试设备还包括多个吸收器，所述多个吸收器配置成将所述多个波束中的一些波束以组为单位彼此分离。

8.根据权利要求7所述的测试设备，

其中，所述吸收器的数量小于所述波束的数量。

9.一种用于关于被测设备的波束成形行为测试所述被测设备的测试方法，所述被测设备发射多个波束，所述测试方法包括以下步骤：

在测试期间，借助于多个反射器将所述被测设备的所述多个波束中的至少一个波束反射到参考点，其中，所述多个反射器平行布置；

在所述参考点处同时或相继地接收所述多个波束；以及

分析接收到的所述多个波束，

其中，在所述测试期间没有切换时间，并且

其中，使用单次激发以获得所期望的测量结果。

10.根据权利要求9所述的测试方法，

其中，所述波束的数量等于所述反射器的数量，或者

其中，所述波束的数量大于所述反射器的数量。

11.根据权利要求9所述的测试方法，

其中，在分析所述多个波束之前，对所述多个波束中的每个波束的频率进行下变频。

12.根据权利要求9所述的测试方法，

其中，借助于多个吸收器将所述多个波束中的每个波束彼此分离。

13.根据权利要求12所述的测试方法，

其中，所述吸收器的数量大于所述波束的数量，或者，

其中，所述吸收器的数量等于所述波束的数量。

14.根据权利要求9所述的测试方法，

其中，借助于多个吸收器将所述多个波束中的一些波束以组为单位彼此分离。

15.根据权利要求14所述的测试方法，

其中，所述吸收器的数量小于所述波束的数量。