[发明专利]一种隧道截面测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201711145473.0 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN107990864A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 胡世金;焦海峰;李宁;李国伟;魏丽;宋健;高燕燕;翟佳;张盛楠;刘洪亮 申请(专利权)人: 北京市政路桥管理养护集团有限公司;北京路桥瑞通养护中心有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01B5/06
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 王莹,吴欢燕
地址: 101399 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 隧道 截面 测量方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及隧道测量方法技术领域,尤其涉及一种隧道截面测量方法及装置。

背景技术

隧道的结构包括主体建筑物和附属设备两部分,其中,主体建筑物由洞身和洞门组成,在隧道洞身的顶部设有套拱。不论新建隧道还是旧隧道在加固衬砌套拱时都对套拱结构层的厚度有一定要求,因此,需要对隧道套拱的厚度进行测量。而现有的隧道套拱的厚度测量方法费时、费工,测得的结果既不直接又不全面。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是提供一种隧道截面测量方法及装置,能够快速直观的测量隧道截面偏差值,从而直观又全面的测量隧道套拱的厚度。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种隧道截面测量方法,包括以下步骤:

在隧道待测段两端的相同侧分别架设隧道截面测量装置,其中,每个所述测量装置均包括拱桥,所述拱桥与该拱桥上方的拱壁平行;

分别确定两个所述拱桥上的对应测量点,在两个所述对应测量点之间牵拉测量线,所述测量线与所述隧道的轴线平行;

根据平行原理,分别计算所述测量线上多个位置对应的拱壁的凹凸偏差值;

根据多个所述凹凸偏差值,确定所述待测段拱壁的凹凸偏差情况。

优选的,所述拱桥与该拱桥上方的拱壁平行,进一步包括:

两个所述拱桥上的任一测量点与该测量点上方的拱壁之间的距离均为预设测量值L。

优选的,所述根据平行原理,分别计算所述测量线上多个位置对应的拱壁的凹凸偏差值,进一步包括:

确定所述测量线上的多个待测点,获取每一所述待测点与其上方的所述拱壁之间的距离,以分别获取多个测量距离值;

将各个所述测量距离值分别与预设测量值比较,以分别确定多个所述凹凸偏差值。

优选的,所述根据多个所述凹凸偏差值,确定所述待测段拱壁的凹凸偏差情况,进一步包括:

将同一条所述测量线上的多个所述凹凸偏差值设为一组凹凸偏差组,分别确定多条所述测量线,以分别获取多组所述凹凸偏差组;

根据多组所述凹凸偏差组,确定所述待测段拱壁的凹凸偏差情况。

优选的,所述分别确定多条所述测量线,以分别获取多组所述凹凸偏差组,进一步包括:

分别确定两个所述拱桥上的多个对应测量点,每两个所述对应测量点之间牵拉测量线,每条所述测量线均与所述隧道的轴线平行;

分别确定每条所述测量线对应的各组所述凹凸偏差组。

优选的,该测量方法的具体测量步骤包括:

(1)沿所述隧道待测段上分别截取多个待测截面,在各个所述待测截面中任选三个截面,以确定依次排列的第一截面、第二截面和第三截面;

(2)在所述第一截面和第二截面的同一侧分别架设第一测量装置和第二测量装置,以获取所述第一测量装置和第二测量装置之间的拱壁凹凸偏差情况;

(3)在所述第一截面的另一侧架设第三测量装置,并将所述第一测量装置拆除并迁至所述第二截面的另一侧,以获取所述第三测量装置和迁移后的所述第一测量装置之间的拱壁凹凸偏差情况;

(4)将所述第三测量装置迁至所述第三截面上与所述第二测量装置相同的一侧,以获取所述第二测量装置和迁移后的所述第三测量装置之间的拱壁凹凸偏差情况;

(5)将所述第二测量装置迁至所述第三截面上与步骤(3)中所述的第一测量装置相同的一侧,以获取所述的第一测量装置和迁移后的所述第二测量装置之间的拱壁凹凸偏差情况;

(6)重复步骤(2)至步骤(5),直至完成所述隧道待测段的所有拱壁的凹凸偏差情况。

本发明根据如上所述的测量方法提出了一种隧道截面测量装置,在隧道待测段两端的相同侧分别架设有该隧道截面测量装置,每个所述测量装置均包括拱桥和底座,每个所述拱桥分别架设于隧道的拱壁下方,且分别与该拱桥上方的拱壁平行,每个所述拱桥上分别可移动的设有卡箍,两个所述卡箍之间通过测量线连接,所述测量线与所述隧道的轴线平行;所述拱桥的两端分别连接有立杆,每个所述立杆分别通过所述底座竖直立在地面上。

优选的,所述立杆包括连接杆和至少一个调高杆,所述连接杆与底座连接,各个所述调高杆连接在所述连接杆和拱桥之间。

优选的,所述连接杆的两端分别沿轴向设有螺孔,所述调高杆的一端沿轴向设有螺孔,另一端沿轴向向外伸出有螺柱。

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