[发明专利]一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统

说明书

技术领域

本发明属于光纤测试技术领域，更具体地，涉及一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统。

背景技术

光纤的几何参数和传输损耗是所有光纤生产商在光纤出厂前必须测量的两个最重要的指标。

光纤的几何参数包括纤芯直径、包层直径、芯包同心度、纤芯不圆度以及包层不圆度。几何参数不但对光纤的传输性能和机械性能有影响，而且对光纤的连接损耗影响很大。对于通信光纤的几何参数指标，ITU-T均有着明确规定：无论多模光纤或是单模光纤，通讯用光纤的外径均为(125±3)μm；多模光纤纤芯直径大小有(50.0±3)μm(欧洲规范)、(62.5±3)μm(美国规范)等几种；纤芯不圆度小于6％，包层不圆度小于2％；光纤同心度差错小于6％。

光纤的传输损耗也指光纤的衰减，是光纤传输特性的重要参量，光纤衰减是阻碍数字信号远距离传输的一个重要因素。光纤损耗的高低直接影响传输距离或中继站间隔距离的远近。为了衡量一根光纤损耗特性的好坏，引入了损耗系数(或称为衰减系数)的概念，即传输单位长度(1km)光纤所引起的光功率减小的分贝数，一般用α表示损耗系数，单位是dB/km，以mW或μW为单位。

以上两个光纤参数指标一般需要两台测试设备分别测试，在流水线上需要安排两个操作人员分别操作，会耗费较多人力。若将两个测试功能集成在一台设备中，通过对集成设备结构的合理优化，还可以实现硬件上的复用，大大降低设备的成本。因此，测试设备的功能集成化、小型化及自动化是以后设备类开发的一个发展方向。

发明内容

本发明鉴于上述情况而提出，其目的在于，提供一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统，通过光路中反射镜的升降，实现在不同测试功能需求下系统对应光路的自动切换。

本发明的技术方案是：

为解决上述技术问题，本发明提供了一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统，包括卤钨光源、光谱探测模块、第一发光二极管、电荷耦合元件、准直聚焦透镜组、可升降反射镜组、第二发光二极管，其中：

所述卤钨光源，用于测量所述光纤衰减系数测试中，产生超宽谱光，并通过所述准直聚焦透镜组，将所述卤钨光源输出的光耦合进入待测光纤的输入端；

所述光谱探测模块，用于在所述光纤衰减系数测试中，测量待测光纤输出端的光谱；

所述第一发光二极管，用于在所述光纤几何参数测试中，通过所述准直聚焦透镜组中的准直镜、聚焦镜，将光注入至待测光纤的输入端，用于在光纤几何测试中点亮纤芯，便于测试所述纤芯的模场直径；

所述电荷耦合元件，用于在所述光纤几何参数测试中，通过其前方显微镜目镜、物镜组对光纤端面进行放大后，测量待测光纤端面的几何参数。

所述准直聚焦透镜组中的准直镜，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，将光源发出的发散光束准直成平行光束，再通过所述准直聚焦透镜组中的聚焦镜，会聚光束进入到待测光纤的端面；

所述可升降反射镜组，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，按照测试流程，进行当前测试所需功能的光路切换，使综合测试设备实现光纤几何参数、衰减系数两种测试功能的集成；

所述第二发光二极管，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，照明所述待测光纤输入输出的端面背景，增强光纤包层几何参数测试的对比度。

本发明的一个实施例中，所述第一发光二极管为绿光发光二极管，其发出的光波长为510nm～550nm。

本发明的一个实施例中，所述卤钨光源发出的光谱范围为400nm～2000nm。

本发明的一个实施例中，所述光谱探测模块测量的波长范围为700nm～1700nm。

本发明的一个实施例中，所述第二发光二极管为红光发光二极管灯圈，其发出的光波长为620nm～680nm。

本发明的一个实施例中，所述准直聚焦透镜组中的准直镜包括用于准直所述卤钨光源输出光的第一准直镜，准直所述第一发光二极管输出光的第二准直镜，准直所述待测光纤输出端的第三准直镜。

本发明的一个实施例中，所述准直镜的数值孔径NA值范围为0.1～0.5。

本发明的一个实施例中，所述准直聚焦透镜组中的聚焦镜包括用于会聚所述卤钨光源输出光或者所述第一发光二极管输出光进入所述待测光纤输入端的第一聚焦镜，会聚所述待测光纤输出端的输出光进入所述光谱探测模块的第二聚焦镜。

本发明的一个实施例中，所述聚焦镜的数值孔径NA值范围为0.1～0.5。