[发明专利]一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统

摘要

本发明公开了一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统，该系统包括：卤钨光源，作为光纤衰减测试的光源，通过准直镜、聚焦镜，将光注入至光纤的输入端；光谱探测模块，用于测量光纤衰减测试中，光纤输出端的输出光谱；第一发光二极管，通过准直镜、聚焦镜，将光注入至待测光纤的输入端，用于在光纤几何参数测试中点亮纤芯；电荷耦合元件，用于在光纤几何参数测试中，测量光纤端面的几何参数；可升降反射镜组，用于在光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，进行当前测试所需功能的光路切换，使综合测试设备实现两种测试功能的集成。本发明能根据不同阶段的测试流程，自动切换光路，减少人力操作，一次性快速获得光纤的几何参数、衰减系数。

主权项

1.一种光纤几何参数、衰减系数综合测试系统，其特征在于，包括卤钨光源、光谱探测模块、第一发光二极管、电荷耦合元件、光纤输入输出端的准直聚焦透镜组、用于切换综合测试系统光路的可升降反射镜组、用于照明光纤输入输出端面背景的第二发光二极管，其中：所述卤钨光源，用于测量所述光纤衰减系数测试中，产生超宽谱光，并通过所述准直聚焦透镜组，将所述卤钨光源输出的光耦合进入待测光纤的输入端；所述光谱探测模块，用于在所述光纤衰减系数测试中，测量待测光纤输出端的光谱；所述第一发光二极管，用于在所述光纤几何参数测试中，通过所述准直聚焦透镜组中的准直镜、聚焦镜，将光注入至待测光纤的输入端，用于在光纤几何参数测试中点亮纤芯，测试所述纤芯的模场直径；所述电荷耦合元件，用于在所述光纤几何参数测试中，通过其前方显微镜目镜、物镜组对光纤端面进行放大后，测量待测光纤端面的几何参数；所述准直聚焦透镜组中的准直镜，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，将光源发出的发散光束准直成平行光束，再通过所述准直聚焦透镜组中的聚焦镜，会聚光束进入到待测光纤的端面；所述可升降反射镜组，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，按照测试流程，进行当前测试所需功能的光路切换，使综合测试设备实现光纤几何参数、衰减系数两种测试功能的集成；所述第二发光二极管，用于在所述光纤几何参数、衰减系数综合测试系统中，照明所述待测光纤输入输出的端面背景，增强光纤包层几何参数测试的对比度。