[发明专利]考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法

权利要求书

1.考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于，包括以下步骤：

A.搜集SPICE仿真数据；

B.根据性能组成分量的先验知识设计芯片性能一般统计模型；

C.考虑设计参数扰动的随机不确定性预测芯片单性能成品率；

D.根据性能指标相关结构的不确定性构造自适应Copula；

E.通过惩罚选择对芯片多元参数成品率进行精确预测。

2.如权利要求1所述的考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于，所述设计芯片性能一般统计模型，包含以下步骤：

B1.将芯片性能表达式构建为各性能组成分量之和的形式：根据性能影响因素的不同，将对芯片性能造成主要影响的部分作为性能组成分量，累加得到性能表达式；

B2.构建性能组成分量表达式：对各组成分量，计算其分布均值，并乘以对应扰动函数得到组成分量表达式；

B3.依据设计参数扰动构建扰动函数：根据参数扰动影响的先验知识，设计包含相应参数扰动的不同扰动基。将扰动函数表示为相应系数与各扰动基相乘后累加的形式。利用搜集的SPICE仿真数据，拟合得到各扰动基对应的系数。

3.如权利要求2所述的考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于所述拟合方法可以是SPSS或非线性回归。

4.如权利要求1所述的考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于，所述预测芯片单性能成品率包含以下步骤：

C1.将芯片性能一般统计模型进行线性逼近：考虑设计参数扰动的随机不确定性，以设计参数扰动均值作为近似极大似然点，对性能模型进行一阶线性展开；

C2.计算芯片性能的累积量母函数：根据累积量母函数性质，对性能逼近表达式进行计算，对于无法利用累积量母函数性质的部分，将其表示为设计参数累积量母函数相关的形式；

C3.设计参数累积量母函数求解：考虑设计参数扰动分布的随机性，对设计参数累积量母函数进行截断逼近，使其具有确定的函数形式，截断累积量母函数的阶数包含但不限于4阶；

C4.芯片单性能成品率预测：求解上述操作步骤后的性能逼近表达式的鞍点，并根据鞍点估计法，通过标准正态分布以及相应参数估计，计算性能边缘分布进而求解芯片单性能成品率。

5.如权利要求1所述的考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于，构造自适应Copula包括确定待选的传统Copula函数，根据性能指标相关结构的不确定性，将自适应Copula通用模型构建为权值系数与具有相依参数的传统Copula函数相乘后累加的形式，建立芯片单性能成品率与多元参数成品率间的连接关系。

6.如权利要求5所述的考虑性能相关结构不确定的芯片多元参数成品率预测方法，其特征在于所述待选的传统Copula函数可以是Gaussian Copula、T Copula、Gumbel Copula、Clayton Copula、Frank Copula。