[发明专利]用于添加式地制造三维物体的设备有效
| 申请号: | 201711128223.6 | 申请日: | 2017-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN109383026B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
| 发明(设计)人: | F·舒德尔;P·庞蒂勒-许穆拉;B·艾肯伯格 | 申请(专利权)人: | CL产权管理有限公司 |
| 主分类号: | B29C64/153 | 分类号: | B29C64/153;B29C64/386;B29C64/393;B22F3/105;B33Y50/00;B33Y50/02 |
| 代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 徐颖聪 |
| 地址: | 德国利希*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 添加 制造 三维 物体 设备 | ||
1.一种用于通过依次逐层地选择性照射和固化多层能借助能量束(4)固化的建造材料(3)而添加式地制造三维物体(2)的设备(1、15),其中,所述能量束(4)通过照射装置(6)被引导到建造平面(5)上,其特征在于,所述设备包括适于确定在制造过程中发射的辐射的光谱信息的评估单元(11),所述评估单元(11)适于确定从所述建造平面(5)的与至少一个固化区域(13)邻近的至少一个邻近区域(14)发射的辐射的光谱信息,其中所述能量束(4)在固化区域(13)中直接照射所述建造材料(3),其中光谱信息包括在至少两个邻近区域(14)之间的温度梯度和/或在至少一个邻近区域(14)与至少一个固化区域(13)之间的温度梯度。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于确定从建造平面(5)发射的和/或从照射装置(6)的聚焦光学构件与建造平面(5)之间的体积发射的辐射的光谱信息。
3.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于确定与制造过程中发射的辐射的光谱组成相关的光谱信息。
4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于,所述光谱信息是与制造过程中发射的辐射的光谱的至少一个发射谱线和/或至少一个吸收谱线相关的信息。
5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述至少一个吸收谱线是从建造平面(5)发射的。
6.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于确定从所述建造平面(5)的、其中能量束(4)直接照射建造材料的至少一个固化区域(13)发射的辐射的光谱信息。
7.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于就位置和/或时间解析地确定所述光谱信息。
8.根据权利要求7所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于产生所述建造平面(5)的至少一部分的至少一个图谱(17),所述至少一个图谱包括针对所述建造平面(5)上的至少两个位置(18a-18p)和/或针对至少两个时间点所确定的光谱信息。
9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于产生包括在制造过程中被添加式建造的物体(2)的至少两个不同层的光谱信息的3D图谱(19)。
10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述3D图谱包括至少两个图谱(17)。
11.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述设备设置有存储单元,所述存储单元适于存储所述光谱信息和/或至少一个图谱和/或至少一个3D图谱(19)。
12.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述设备设置有控制单元,所述控制单元适于根据至少一个探测到的光谱信息来控制至少一个过程参数。
13.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)适于在制造过程中探测所述光谱信息。
14.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述评估单元(11)与所述能量束(4)共焦地布置或被独立布置。
15.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,控制单元适于校准所述评估单元(11)。
16.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述光谱信息包括和/或涉及:
-建造材料(3)的至少一个特性;和/或
-至少一个固化区域(13)和/或与所述至少一个固化区域(13)邻近的至少一个邻近区域(14)的温度和/或位置上的和/或时间上的温度变化。
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