[发明专利]一种基于数值模拟的地层倾角对电阻率影响的校正方法有效
| 申请号: | 201711104609.3 | 申请日: | 2017-11-10 |
| 公开(公告)号: | CN107748393B | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
| 发明(设计)人: | 赵军;蒲万丽;刘凯;武延亮;肖承文;向薪燃 | 申请(专利权)人: | 西南石油大学 |
| 主分类号: | G01V3/18 | 分类号: | G01V3/18;G01V3/38 |
| 代理公司: | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人: | 霍春月 |
| 地址: | 610500 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 数值 模拟 地层 倾角 电阻率 影响 校正 方法 | ||
1.一种基于数值模拟的地层倾角对电阻率影响的校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、首先运用有限元方法模拟不同地层倾角条件下感应测井的地层电阻率;
S2、再利用数值模拟结果建立电阻率正演模型:
式中,Rt为正演模型的计算值,Rh为地层水平电阻率,Rv为地层垂直电阻率,θ为地层倾角,其中Rh就是需要通过倾角校正的地层水平电阻率,通过采用粒子群算法,将地层视电阻率Ra与正演模型的计算电阻率Rt比较,得出满足特定适应度函数的全局最优解时的地层水平电阻率Rh;
S3、最后利用拟合出的正演模型,配合粒子群算法,将地层视电阻率Ra与正演模型的计算电阻率Rt比较,得出满足特定适应度函数的全局最优解时的地层水平电阻率Rh;
所述步骤S1的具体过程为:
S10、建立地层物理模型,其中地层的物理模型包括地层结构、模型参数,所述地层结构包括目的层的厚度h、地层的倾斜角度θ、井径D、以及线圈系的位置坐标;所述模型参数包括目的层电阻率为Rt、地层相对介电常数εr、地层相对磁导率μr、上下围岩的电阻率为Rs、井眼内泥浆的电阻率为Rf;
S11、建立微分方程及边界条件:
磁场的矢量波动方程:
地层界面上的边界条件:
n×(H1-H2)=0
狄里克雷边界条件:
H|∞=0
式中:H为磁场强度,ω角频率,μ磁导率,εc复介电常数,Ms为磁流密度矢量;
S12、将地层物理模型体积V离散成有限个四面体单元;
S13、选取插值函数;
S14、建立有限元方程;
S15、对于复合线圈系,由迭加原理可得到感应测井的视电阻率值;
S16、最后对模拟结果进行分析。
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