[发明专利]一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置

权利要求书

1.一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：该装置主要由单反射面紧缩场的反射面、馈源和极化栅组成；馈源照射单反射面紧缩场的精密反射面，将球面波前准直校正为平面波；在单反射面紧缩场的平面波静区前布置极化栅，对静区场进行极化滤除或选通，其中馈源及极化栅的极化选通状态由各自控制器控制。

2.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：所述的紧缩场采用单反射面布局，具有结构紧凑简单相对便于制造，适合应用于对制造精度有较高要求的THz波段测试场。

3.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：焦径相对比较小的短焦设计，有利于提升紧缩场全频段性能和测量仪表系统的动态范围。

4.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：所述的用于极化选通的极化栅丝线方向可调，调整极化栅丝线方向时不局限于电动或手动控制实现。

5.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：所述的用于极化选通的极化栅，工作带宽能超过10倍频程，不限于某特定工作频段。

6.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：所述的单反射面紧缩场系统的反射面的边缘处理不局限于特定的卷曲或锯齿，以抑制边缘绕射对静区的干扰。

7.如权利要求1所述的一种高交叉极化隔离的单反射面紧缩场装置，其特征在于：所述的单反射面紧缩场系统的安装环境不局限于是否安装吸波材料的微波暗室或微波暗箱。