[发明专利]光谱曲线重构方法和装置

权利要求书

1.一种光谱曲线重构方法，其特征在于，所述方法包括：

光谱曲线重构设备确定被测物上W个采样点中第一个采样点的光谱函数，所述W为大于等于1的正整数；

确定第一个采样点的光谱函数包括执行如下步骤：

获取被测物的第一采样点的采样结果，所述第一采样点的采样结果包括该采样点的M个通道的采样结果，所述M为大于1的正整数；根据光源输出光谱函数分别与采样设备的M个采样通道的光谱响应函数的乘积,确定M个采样函数；根据冲击函数群和采样函数确定抽样数组矩阵；所述抽样数组矩阵中的一行是将M个采样函数中一个与冲击函数群中的N个单位冲击函数分别相乘确定；所述冲击函数群包括多个单位冲击函数；通过抽样数组矩阵和采样结果确定欠定方程组，所述欠定方程组包括多个解；根据冲击函数群和先验光谱函数确定变量S，通过取变量S的最小值作为约束条件，从所述欠定方程组的多个解中确定一个为所述第一个采样点的光谱函数；

重复执行上述方法确定被测物的W个采样点中除第一个采样点外其他每个采样点的光谱函数，所述W个采样点的光谱函数的组合为所述被测物的光谱重构结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据采样结果和抽样数组矩阵确定欠定方程组：

其中，K₁₁至K_mn为抽样数组矩阵，所述f₁至f_n为欠定方程组的解，所述B₁至B_M为采样结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据冲击函数群和先验光谱函数确定变量S，包括：

S＝max{|fa1-f1|，|fa2-f2|，|fa3-f3|......|fan-fn|}

其中，fa1至fan为先验数组，所述先验数组是冲击函数群对先验光谱函数的采样结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述冲击函数群为：

fs＝δ(x-y1)+δ(x-y2)+δ(x-y3)+......+δ(x-yn)

其中，δ(x-y1)至δ(x-yn)中的任意一个为一个单位冲击函数，所述δ用于表示冲击函数，x为未知量，y1至yn为常数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述y1为可见光光谱最短波长，yn为可见光光谱最长波长。

6.一种光谱曲线重构装置，其特征在于，包括：

处理单元，用于光谱曲线重构设备确定被测物上W个采样点中第一个采样点的光谱函数，所述W为大于等于1的正整数；

确定第一个采样点的光谱函数包括执行如下步骤：

获取被测物的第一采样点的采样结果，所述第一采样点的采样结果包括该采样点的M个通道的采样结果，所述M为大于1的正整数；根据光源输出光谱函数分别与采样设备的M个采样通道的光谱响应函数的乘积,确定M个采样函数；根据冲击函数群和采样函数确定抽样数组矩阵；所述抽样数组矩阵中的一行是将M个采样函数中一个与冲击函数群中的N个单位冲击函数分别相乘确定， 所述冲击函数群包括多个单位冲击函数；通过抽样数组矩阵和采样结果确定欠定方程组，所述欠定方程组包括多个解；根据冲击函数群和先验光谱函数确定变量S，通过取变量S的最小值作为约束条件，从所述欠定方程组的多个解中确定一个为所述第一个采样点的光谱函数；

重复执行上述方法确定被测物的W个采样点中除第一个采样点外其他每个采样点的光谱函数，所述W个采样点的光谱函数的组合为所述被测物的光谱重构结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述冲击函数群为：

fs＝δ(x-y1)+δ(x-y2)+δ(x-y3)+......+δ(x-yn)

其中，δ(x-y1)至δ(x-yn)中的任意一个为一个单位冲击函数，所述δ用于表示冲击函数，x为未知量，y1至yn为常数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述y1为可见光光谱最短波长，yn为可见光光谱最长波长。