[发明专利]显示设备

说明书

根据本发明的显示设备可包括：装配有多个像素的显示面板，多个像素连接至数据线和感测线；源极驱动IC，其被配置成经由感测线将数据电压提供至像素且装配有感测组块，感测组块使用经由感测线输入的信号获得与像素的驱动特性相关的感测数据；开关，其被配置成控制像素和感测组块之间经由感测线的连接；和电源，其被配置成提供测试电压或测试电流至感测组块。在开关断开像素和感测组块的连接的状态下，通过使用测试电压或测试电流，源极驱动IC可获得用于感测组块的校准数据。

技术领域

本发明涉及一种显示设备，和更特别地，涉及一种校准用于实时感测显示面板特性的感测电路的显示设备。

背景技术

有源矩阵型有机发光显示器覆盖有机发光二极管(以下，称作“OLED”)，其自身发光，且优势在于快响应速度、高发光效率、高亮度和宽视角。

自身发光的OLED包括阳极、阴极和形成于其间的有机化合物层。有机化合物层包括空穴注入层HIL、空穴传输层HTL、发射层EML、电子传输层ETL、和电子注入层EIL。当将驱动电压施加到阳极和阴极时，穿过HTL的空穴和穿过ETL的电子被传送到EML以形成激子。结果，发光层EML发出可见光。

在有机发光二极管显示设备中，每一个都包括OLED的像素被设置成矩阵形式，且根据图像数据等级，通过控制OLED发出的光量控制亮度。每个像素都包括驱动元件，也就是驱动薄膜晶体管TFT，其根据在其栅极和源极之间施加的电压控制流过OLED的像素电流。OLED和驱动TFT的电特性随着时间变劣且会引起像素差。在像素之间的电偏移是图像质量变差的主要因素。

公知的外部补偿技术是测量与像素电特性(驱动TFT的阈值电压和电子迁移率以及OLED的阈值电压)对应的感测信息和基于感测信息调制外部电路中的图像数据，以补偿像素之间的电特性偏差。

在该外部补偿技术中，通过使用嵌入到源极驱动IC(集成电路)中的感测组块感测像素的电特性。以电流形式接收像素特性信号的感测组块包括具有电流积分器和采样/保持器(holder)的多个感测单元，和模数转换器ADC。电流积分器通过感测通路进行像素电流输入的积分以生成感测电压。该感测电压经由采样/保持器通过ADC，且通过ADC被转换成数字感测数据。时序控制器基于自ADC的数字感测数据计算像素补偿值用于补偿像素电特性变化，并基于像素补偿值校正输入图像数据。

由于有机发光显示器包括用于以分段方式在区域基础(area basis)上驱动显示面板的多个源极驱动IC，因此每一个都被嵌入到每个源极驱动IC中的多个感测组块以分段方式基于区域感测显示面板区域上的像素。当通过多个感测组块以分段方式感测像素时，由于在感测组块之间的偏移(offset)变化会导致感测精确度较低。尤其，在ADC内部，源极驱动IC特性依赖于温度或者周围环境变化，因此ADC的输出一定程度上在一定范围室温下保持恒定值，但是在室温以外的高温下，其改变为明显不同于室温下的值。ADC的该输出特性影响面板的像素感测数据，引起当显示图像时，在源极驱动IC负责的区域之间显示亮度差的组块模糊现象。

图1在概念上示出了用于执行校准的技术，以消除由于装运之后ADC特性变化引起的组块模糊现象。

由于包括在感测组块中的ADC特性偏移，导致源极驱动IC(或感测组块)之间的偏移不同。在装运显示设备之前，经由分开的工艺测量偏差且通过补偿减小偏移，因此当显示相同亮度数据时，在源极驱动IC负责的区域之间不会发生亮度差。但是，在装运之后，ADC特性改变且在感测组块的偏移之间产生偏差，因此，当显示相同亮度的数据时，会发生其中在源极驱动IC负责的区域之间亮度不均匀的现象，且在水平方向上亮度会变化。

为了解决组块模糊现象，必须首先经由校准工艺补偿感测组块之间的偏移差。在校准工艺中，将测试电流或者测试电压V_reference施加到每个感测组块，获得反映ADC特性变化的用于校准的感测数据，且基于用于校准的感测数据计算感测组块当中能补偿偏移差的用于校准的补偿值。当校正输入图像数据时，通过参考用于校准的补偿值以及用于像素的补偿值，时序控制器增加了补偿精度。