[发明专利]高阶弱黏结煤的配用方法

权利要求书

1.一种高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：

1)高阶弱黏结煤成焦结构缺陷分析及调控：

先在光学显微镜下观察未经粉碎的高阶弱黏结煤成焦显微结构，将块状结构体之间存在有若干裂缝的结构定义为裂隙结构缺陷；将裂隙结构缺陷中两裂缝间的距离定义为裂隙结构缺陷单元尺寸；将若干气孔密集在一起形成的蜂窝状结构定义为薄壁多孔结构缺陷，将薄壁多孔结构缺陷中每个气孔的直径定义为薄壁多孔结构缺陷单元尺寸；根据上述定义，辨析裂隙结构缺陷、薄壁多孔结构缺陷；利用Image J软件辨别分析裂隙结构缺陷的单元尺寸、薄壁多孔结构缺陷的单元尺寸，并对各微观结构缺陷单元尺寸进行统计，分别得出不同单元尺寸范围裂隙结构缺陷个数、薄壁多孔结构缺陷个数、裂隙结构缺陷总个数、薄壁多孔结构缺陷总个数，从而计算出各单元尺寸范围下的裂隙结构缺陷比例和薄壁多孔结构缺陷比例，当某一单元尺寸范围及较该单元尺寸范围更小的所有单元尺寸范围下，裂隙结构缺陷比例之和与薄壁多孔结构缺陷比例之和均在10％以下时，则将该单元尺寸范围的上限作为调控高阶弱黏煤成焦结构缺陷的粉碎粒度的上限值；

2)不同粉碎粒度下的高阶弱黏结煤界面结合力的分析及调控：

对于不同粉碎粒度下的高阶弱黏结煤界面结合力的分析，按照界面结合力测定方法进行；所述界面结合力测定方法参照国标GB/T5447-2014烟煤黏结指数测定方法进行，所不同的是自黏结强度测定方法全部取用高阶弱黏结煤，而无需加无烟煤；

用计算烟煤黏结指数的方法计算高阶弱黏结煤的界面结合力；通过统计各粉碎粒度下的高阶弱黏结煤的界面结合力变化，找出界面结合力最大值，将不低于95％的界面结合力最大值的界面结合力所对应的最大粉碎粒度，作为调控界面结合力的粉碎粒度的上限值；

3)高阶弱黏结煤成焦结构缺陷调控和界面结合力调控的结合：

比较高阶弱黏结煤成焦结构缺陷调控得到的粉碎粒度上限值和界面结合力调控得到的粉碎粒度上限值，较小的一个上限值则作为高阶弱黏结煤的粉碎粒度控制值。

2.根据权利要求1所述的高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：所述高阶弱黏结煤成焦结构缺陷分析及调控步骤中，每个裂隙结构缺陷中，裂缝的个数为8个以上，每个薄壁多孔结构缺陷中，气孔的个数为8个以上。

3.根据权利要求1或2所述的高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：所述高阶弱黏结煤成焦结构缺陷分析及调控步骤中，各单元尺寸范围依次为＞3mm、≤2～3mm、≤1～2mm、≤0.8～1mm、≤0.6～0.8mm、≤0.5～0.6mm、≤0.4～0.5mm及≤0.4mm，其中≤2～3mm表示大于等于2mm而小于3mm，≤1～2mm表示大于等于1mm而小于2mm，依次类推，≤0.4～0.5mm则表示大于等于0.4mm而小于0.5mm。

4.根据权利要求1或2所述的高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：所述高阶弱黏结煤成焦结构缺陷分析及调控步骤中，当某一单元尺寸范围及较该单元尺寸范围更小的所有单元尺寸范围下，裂隙结构缺陷比例之和与薄壁多孔结构缺陷比例之和均在10％以下时，且裂隙结构缺陷比例之和与薄壁多孔结构缺陷比例之和的和为15％以下时，将该单元尺寸范围的上限作为调控高阶弱黏煤成焦结构缺陷的粉碎粒度的上限值。

5.根据权利要求1或2所述的高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：所述不同粉碎粒度下的高阶弱黏结煤界面结合力的分析及调控步骤中，各粉碎粒度依次为<3mm、<2mm、<1mm、<0.8mm、<0.6mm、<0.5mm、<0.4mm、<0.3mm、<0.2mm、<0.1mm。

6.根据权利要求1或2所述的高阶弱黏结煤的配用方法，其特征在于：所述不同粉碎粒度下的高阶弱黏结煤界面结合力的分析及调控步骤中，将不低于97％的界面结合力最大值的界面结合力所对应的最大粉碎粒度，作为调控界面结合力的粉碎粒度的上限值。