[发明专利]检测装置、筛选机台以及检测方法在审

专利信息
申请号: 201711032521.5 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN109719044A 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 张勳章 申请(专利权)人: 昆山全盈自动化设备有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00;B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 席勇;周勇
地址: 215341 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 待测件 取像装置 机台 处理装置 检测装置 检测 螺孔 影像 筛选 螺纹 比对 配置 参考影像 非接触式 影像比对 分析 种检测 邻设 承载 拍摄
【权利要求书】:

1.一种检测装置,其特征在于,所述检测装置包含:

平台,被配置为承载至少一个待测件,其中所述至少一个待测件具有螺孔;

取像装置,邻设于所述平台,其中所述取像装置被配置为拍摄所述待测件的所述螺孔,以获得至少一个待分析影像;

处理装置,连接所述取像装置,其中所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异,或比对同一个所述待测件的多个所述待分析影像之间的差异,并判断所述至少一个待测件的所述螺孔是否符合需求。

2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述取像装置为内视镜装置,设置在所述平台的上方,以从所述待测件的所述螺孔上方、或所述螺孔的内部拍摄所述螺孔。

3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述内视镜装置的光轴是与所述待测件的中心线重叠。

4.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述处理装置具有影像比对单元,被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异,或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

5.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述取像装置包含至少一个反射件以及至少一个摄影镜头,所述至少一个反射件被配置为伸入所述待测件的所述螺孔中,以反射所述螺孔的影像,所述摄影镜头被配置为取得所述至少一个反射件所反射的所述螺孔的影像,以产生所述待分析影像。

6.如权利要求5所述的检测装置,其特征在于,所述至少一个反射件的数量为二个以上,且每个所述反射件的设置方位不相同,多个反射件是被配置为分别伸入同一个所述待测件的所述螺孔中,以反射所述螺孔的多个影像。

7.如权利要求5所述的检测装置,其特征在于,所述处理装置具有影像比对单元,被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异,或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。

8.一种筛选机台,其特征在于,所述筛选机台包含:

如权利要求1所述的检测装置;

驱动装置,被配置为改变所述平台与所述取像装置的相对位置;

送料装置,设置在所述平台的一侧,被配置为将所述至少一个待测件输送至所述平台上;以及

排料装置,设置在所述平台的一侧,被配置为将所述至少一个待测件从所述平台排出。

9.一种检测方法,其特征在于,所述检测方法包含:

利用取像装置拍摄至少一个待测件的所述螺孔,以取得至少一个待分析影像;以及

利用处理装置比对所述至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异,或比对同一个所述待测件的多个所述待分析影像之间的差异,以判断所述至少一个待测件的所述螺孔是否符合需求。

10.如权利要求9所述的检测方法,其特征在于,取得所述至少一个待分析影像的步骤还包含:利用内视镜装置从所述待测件的所述螺孔上方、或所述螺孔的内部拍摄所述螺孔。

11.如权利要求10所述的检测方法,其特征在于,所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异,或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

12.如权利要求9所述的检测方法,其特征在于,取得所述至少一个待分析影像的步骤还包含:

利用至少一个反射件伸入所述待测件的所述螺孔中,以反射所述螺孔的影像;以及

利用摄影镜头取得所述至少一个反射件所反射的所述螺孔的影像,以产生所述至少一个待分析影像。

13.如权利要求12所述的检测方法,其特征在于,所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异,或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。

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