[发明专利]用于计算横截面积的方法

权利要求书

1.一种用于计算横截面积的方法，以计算粘附到衬底上的粘附体的所述横截面积，其特征在于，用于计算所述横截面积的所述方法包括：

用于获取所述粘附体的厚度改变曲线图的过程；

用于提取在所述粘附体的所述厚度改变曲线图上的峰顶与基线之间存在的多个过渡点的过程，其中所述基线与所述峰顶之间存在弯曲，所述过渡点接合在一起形成弯曲；

用于设定参考高度的过程，其中所述粘附体的所述厚度改变曲线图具有多个所述峰顶，所述参考高度是水平高度直线从高度方向的下部上升到上部的情况下，存在所有所述峰顶中的每一个的在两个点处会合的水平高度直线，将与对应于多个所述峰顶中的所有者的在两个点处会合的水平高度直线的最小高度设定为所述参考高度；

用于提取所述粘附体的所述厚度改变曲线图在其上与所述参考高度交叉的相交点的过程；以及

用于使用所述粘附体的所述厚度改变曲线图上的所述过渡点之间的值计算所述粘附体的所述横截面积的过程，其中所述过渡点位于比所述相交点的高度低的高度，

其中用于使用所述过渡点之间的所述值计算所述粘附体的所述横截面积的所述过程包括：

用于选择所述过渡点当中最靠近所述相交点的所述过渡点的过程；及

用于在通过由两个选定的过渡点之间的区域的所述值所形成的线和连接所述选定的过渡点的线所形成的图执行积分计算的过程。

2.根据权利要求1所述的用于计算所述横截面积的方法，

其中用于获取所述粘附体的所述厚度改变曲线图的所述过程包括：

用于获取所述衬底的均匀性曲线图的过程；

用于获取所述粘附体的均匀性曲线图的过程；以及

用于计算所述衬底的所述均匀性曲线图和所述粘附体的所述均匀性曲线图的过程。

3.根据权利要求2所述的用于计算所述横截面积的方法，其中

用于获取所述衬底的所述均匀性曲线图的所述过程包括用于测量在所述衬底上的一个方向上的线上的高度值的过程，

用于获取所述粘附体的所述均匀性曲线图的所述过程包括用于测量对应于所述线的所述粘附体的高度值的过程，且

用于计算所述衬底的所述均匀性曲线图和所述粘附体的所述均匀性曲线图的所述过程包括用于从所述粘附体的所述均匀性曲线图减去所述衬底的所述均匀性曲线图的过程。

4.根据权利要求3所述的用于计算所述横截面积的方法，其中

用于测量所述衬底的所述高度值的所述过程包括用于通过沿着所述衬底上的所述线在所述一个方向上移动用于测量高度的所述测量仪器来测量所述高度值的过程，且

用于测量所述粘附体的所述高度值的所述过程包括用于通过沿着所述粘附体上的所述线在所述一个方向上移动所述测量仪器来测量所述高度值的过程。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于计算所述横截面积的方法，其中

所述衬底包括玻璃，且

所述粘附体包括涂覆于所述衬底上的原材料。

6.根据权利要求5所述的用于计算所述横截面积的方法，其中

所述原材料形成多个线，且

计算所述多个线的所述横截面积。