[发明专利]一种坏线修复方法、装置及设备

说明书

本发明公开一种坏线修复方法、装置及设备，所述方法包括：确定待修复图像上存在栅影；获得所述栅影的方向信息；根据所述栅影的方向信息，确定所述待修复图像上与所述栅影的方向信息一致的坏线；获得位于所述坏线两侧，且与所述坏线相隔预设个数的像素点的灰度平均值；利用所述灰度平均值，对所述待修复图像上的所述坏线进行修复。由于与坏线相隔预设个数的像素点受栅影影响较小，所以，利用位于坏线两侧且与坏线相隔预设个数的像素点的灰度均值对坏线进行修复，能够对低密度滤线栅图像上的坏线有较好的修复效果。

技术领域

本申请涉及数据处理领域，具体涉及一种坏线修复方法、装置及设备。

背景技术

由于探测器工艺的关系，其输出的图像上通常会存在坏线，影响了图像的质量，需要对其进行修复。

通常情况下，探测器自身会根据坏点图自动对输出的图像上的坏线进行修复。但是，对于使用了低密度滤线栅的图像，由于图像上栅影的存在，即便是经过了探测器自身的修复，图像上与栅影方向一致的坏线修复效果仍然欠佳，如图1所示，为经过探测器自身修复的低密度滤线栅图像的修复效果示意图，其中，被框出的坏线修复效果较差。

为此，亟需一种坏线修复方法，能够对低密度滤线栅图像上的坏线有较好的修复效果。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种坏线修复方法、装置及设备，能够对低密度滤线栅图像上的坏线有较好的修复效果。

第一方面，本发明提供了一种坏线修复方法，所述方法包括：

确定待修复图像上存在栅影；

获得所述栅影的方向信息；

根据所述栅影的方向信息，确定所述待修复图像上与所述栅影的方向信息一致的坏线；

获得位于所述坏线两侧，且与所述坏线相隔预设个数的像素点的灰度平均值；

利用所述灰度平均值，对所述待修复图像上的所述坏线进行修复。

可选的，所述确定待修复图像上存在栅影，包括：

分别获取待修复图像上水平方向的频率曲线和垂直方向的频率曲线；

计算所述水平方向的频率曲线和所述垂直方向的频率曲线，分别在预先获取的栅影频率分布范围内的离散程度；

根据所述离散程度，判断所述待修复图像上是否存在栅影；

如果所述离散程度大于预设阈值，则确定所述待修复图像上存在栅影。

可选的，所述获得所述栅影的方向信息，包括：

根据大于预设第一阈值的所述离散程度所对应的频率曲线的方向，获得所述栅影的方向信息。

可选的，所述方法还包括：

所述利用所述灰度平均值，对所述待修复图像上的所述坏线进行修复之后，对所述待修复图像上的所述栅影进行抑制。

可选的，所述方法还包括：

在确定所述待修复图像上不存在栅影，或者，在所述利用所述灰度平均值，对所述待修复图像上的所述坏线进行修复之后，

针对所述坏线上的任一坏点，均执行以下步骤：

以所述坏点为圆心的预设区域内，分别计算除所述坏线的方向外的其他方向上的像素点的灰度值标准差；

计算最小的灰度值标准差对应的方向上各个像素点的灰度平均值；

利用所述灰度平均值，对所述坏点进行修复。

可选的，所述方法还包括：