[发明专利]定位方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201710995359.0 申请日: 2017-10-23
公开(公告)号: CN107831765B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 谢琨 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司
主分类号: G05D1/02 分类号: G05D1/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 510530 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 定位 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种定位方法,其特征在于,包括:

对目标对象所在的区域地图进行降采样处理,以生成不同分辨率的多个降采样地图,所述区域地图的分辨率最大;

将分辨率最小的降采样地图的全部区域作为待处理区域;

预处理所述待处理区域,以确定所述目标对象所在的备选位置区域;

在比所述备选位置区域高一级分辨率的降采样地图中选定与所述备选位置区域对应的区域作为待处理区域;

返回执行预处理所述待处理区域,以确定所述目标对象所在的备选位置区域的操作,直到在所述区域地图中选定与所述备选位置区域对应的区域作为所述区域地图的待处理区域为止;

在所述区域地图的待处理区域中确定所述目标对象的位置。

2.根据权利要求1所述的定位方法,其特征在于,所述预处理所述待处理区域,以确定所述目标对象所在的备选位置区域包括:

将所述待处理区域等分为N个子待处理区域,N为大于1的正整数;

分别计算出所述N个子待处理区域的候选区域得分;

选择候选区域得分最大的子待处理区域作为备选位置区域。

3.根据权利要求2所述的定位方法,其特征在于,所述分别计算出所述N个子待处理区域的候选区域得分包括:

分别计算出所述N个子待处理区域中全部候选点的位姿得分,所述子待处理区域中包括至少一个所述候选点;

在所述子待处理区域对应的位姿得分中选择最高位姿得分作为所述子待处理区域的候选区域得分。

4.根据权利要求2所述的定位方法,其特征在于,所述在所述区域地图的待处理区域中确定所述目标对象的位置包括:

计算所述区域地图的待处理区域中全部候选点的位姿得分,所述区域地图的待处理区域中包括至少一个所述候选点;

选择最高位姿得分对应的候选点作为目标对象所在位置。

5.根据权利要求3或4所述的定位方法,其特征在于,所述候选点的位姿得分的计算方式为:

利用公式计算候选点的位姿得分,其中,score(c)表示候选点c的位姿得分,K表示目标对象中传感器采集信息的个数,hk表示所述目标对象根据第k个采集信息确定的障碍物相对于所述目标对象参考点的距离,1≤k≤K,ch为当前地图的分辨率,表示与所述目标对象参考点的距离为hk的障碍物在分辨率为ch的地图坐标系中的绝对坐标,表示hk与分辨率为ch的地图坐标系间的转换关系,ξc表示所述障碍物到传感器的距离与所述障碍物到所述目标对象参考点的距离的转换关系,表示所述绝对坐标为障碍物的概率值,precomp表示地图标记。

6.根据权利要求4所述的定位方法,其特征在于,所述选择最高位姿得分对应的候选点作为目标对象所在位置之后,还包括:

获取比所述区域地图低一级分辨率的降采样地图作为当前处理地图;

确认所述当前处理地图中非所述备选位置区域的子待处理区域的候选区域得分;

判断非所述备选位置区域的子待处理区域的候选区域得分是否高于所述目标对象所在位置的位姿得分;

如果是,将高于所述目标对象所在位置的位姿得分的子待处理区域作为待处理区域,并返回执行预处理所述待处理区域,以确定所述目标对象所在的备选位置区域的操作;

如果否,将比所述当前处理地图低一级分辨率的降采样地图更新为当前处理地图,并返回执行确认所述当前处理地图中非所述备选位置区域的子待处理区域的候选区域得分的操作,直到确认分辨率最小的降采样地图中非所述备选位置区域的子待处理区域的候选区域得分小于所述目标对象所在位置的位姿得分为止,并将所述目标对象所在位置作为最终位置。

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