[发明专利]包括死锁检测器的系统及其方法

说明书

一种包括死锁检测器的系统及其方法。系统包括多个硬件区块、死锁检测器、及互连装置。所述硬件区块包括用于执行指令的处理器及用于存储数据的存储装置。所述死锁检测器实时地监测所述多个硬件区块中的目标硬件区块的运行以将调试信息存储在所述存储装置中。所述互连装置电连接所述死锁检测器与所述多个硬件区块。所述互连装置包括：系统总线，电连接所述多个硬件区块；以及调试总线，将所述死锁检测器电连接到所述目标硬件区块及所述存储装置。

[相关申请的交叉参考]

本申请案主张在2017年3月22日在韩国知识产权局(Korean IntellectualProperty Office，KIPO)提出申请的韩国专利申请第10-2017-0036260号的优先权，所述韩国专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。

技术领域

本发明涉及半导体集成电路，且更具体来说，涉及一种死锁检测器、包括死锁检测器的系统及在系统中检测死锁的方法。

背景技术

当系统的例如中央处理器(central processing unit，CPU)核心等硬件区块陷入死锁时，可能需要进行调试来寻找并解决死锁的原因。如果系统已陷入死锁，则可能难以通过将外部调试器连接到系统来监测系统。传统上，可使用监视器定时器(watchdog timer)来确定系统中的死锁以提取用于调试的数据。监视器的过期时间为约十秒。因此，死锁的根本原因可能会在调试过程期间在收集到调试信息之前消失。因此，可能难以发现并分析死锁的时间点及原因。

发明内容

一些示例性实施例可提供一种能够实时地在系统中检测死锁以确保获得调试信息的死锁检测器。

一些示例性实施例可提供一种包括能够实时地在系统中检测死锁以确保获得调试信息的死锁检测器的系统。

一些示例性实施例可提供一种检测能够实时地在系统中检测死锁以获得调试信息的死锁检测器的方法。

根据示例性实施例，一种系统包括：多个硬件区块，所述多个硬件区块中的至少一个硬件区块包括被配置成执行指令的处理器，且所述多个硬件区块中的至少一个硬件区块包括被配置成存储数据的存储装置；死锁检测器，被配置成实时地监测所述多个硬件区块中的目标硬件区块的运行，以产生表示所述目标硬件区块的异常状态的监测信号，并响应于所述监测信号的产生而将调试信息存储在所述存储装置中；以及互连装置，电连接所述死锁检测器与所述多个硬件区块，所述互连装置包括电连接所述多个硬件区块的系统总线以及将所述死锁检测器电连接到所述目标硬件区块及所述存储装置的调试总线。

根据示例性实施例，一种系统包括：多个硬件区块；以及死锁检测器，收集所述系统的调试信息。所述死锁检测器包括：监测单元，被配置成实时地监测所述多个硬件区块中的目标硬件区块的运行，以产生表示所述目标硬件区块的异常状态的监测信号；调试核心，被配置成基于所述监测信号而将所述调试信息存储在与所述多个硬件区块中的一个对应的存储装置中；以及调试总线，被配置成将所述死锁检测器电连接到所述目标硬件区块及所述存储装置。

根据示例性实施例，提供一种在包括多个硬件区块的系统中检测死锁的方法。所述方法包括：将死锁检测器电连接到所述多个硬件区块中的包括处理器的目标硬件区块以及所述多个硬件区块中的包括存储装置的至少一个硬件区块，所述处理器被配置成执行指令，所述存储装置被配置成存储数据；使用所述死锁检测器实时地监测所述目标硬件区块的运行，以产生表示所述目标硬件区块的异常状态的监测信号；以及使用所述死锁检测器基于所述监测信号将调试信息存储在所述存储装置中。

根据示例性实施例，一种对系统进行诊断的方法包括：将死锁检测器电连接到存储装置及目标硬件区块；实时地监测所述目标硬件区块的运行以产生表示所述目标硬件区块的异常状态的监测信号；基于所述监测信号将调试信息存储在所述存储装置中；在存储所述调试信息之后将所述系统复位；在将所述系统复位之后将所述调试信息提供到外部装置并基于所述调试信息执行调试操作。