[发明专利]包括死锁检测器的系统及其方法在审
申请号: | 201710985232.0 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN108628691A | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | 金载烈;柳允宽 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 刘培培;黄隶凡 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测器 区块 死锁 存储装置 互连装置 电连接 目标硬件 存储数据 调试信息 系统总线 总线 处理器 调试 存储 指令 监测 | ||
1.一种包括死锁检测器的系统,其特征在于,包括:
多个硬件区块,所述多个硬件区块中的至少一个硬件区块包括被配置成执行指令的处理器,且所述多个硬件区块中的至少一个硬件区块包括被配置成存储数据的存储装置;
所述死锁检测器,被配置成实时地监测所述多个硬件区块中的目标硬件区块的运行,以产生表示所述目标硬件区块的异常状态的监测信号并响应于所述监测信号的产生而将调试信息存储在所述存储装置中;以及
互连装置,电连接所述死锁检测器与所述多个硬件区块,所述互连装置包括:
系统总线,电连接所述多个硬件区块;以及
调试总线,将所述死锁检测器电连接到所述目标硬件区块及所述存储装置。
2.根据权利要求1所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述目标硬件区块对应于包括所述处理器的所述硬件区块,且所述处理器包括性能监测单元,所述性能监测单元包括多个计数器,所述多个计数器分别被配置成对所述处理器的对应的不同事件进行计数。
3.根据权利要求2所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述性能监测单元提供与所监测事件的计数数目对应的事件计数值,且
其中所述死锁检测器基于所述事件计数值来监测所述处理器的运行。
4.根据权利要求3所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,进一步包括:
系统计数器,被配置成提供时间信息,
其中所述性能监测单元基于来自所述系统计数器的所述时间信息而周期性地提供所述事件计数值,使得所述死锁检测器周期性地监测所述处理器的所述运行。
5.根据权利要求4所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,对所述处理器的所述运行进行监测的循环周期短于一毫秒。
6.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述性能监测单元提供指令退休信号,所述指令退休信号是每当所述处理器的每一指令得到执行且完成时以脉冲形式被激活,且
其中所述死锁检测器基于所述指令退休信号来监测所述处理器的所述运行。
7.根据权利要求1所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述死锁检测器控制所述系统,以使得在所述调试信息存储在所述存储装置中之后将所述系统复位。
8.根据权利要求1所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述死锁检测器是以在所述系统的工作模式与待机模式二者期间所述死锁检测器均被供电的方式设置。
9.根据权利要求1所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,当所述系统进入待机模式而使得所述处理器的供电被中断时,所述死锁检测器被去能,且当所述系统从所述待机模式进入工作模式时,所述死锁检测器被使能。
10.根据权利要求1所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述死锁检测器包括:
监测单元,被配置成实时地监测所述目标硬件区块的所述运行,以产生表示所述目标硬件区块的所述异常状态的所述监测信号;以及
调试核心,被配置成基于所述监测信号而将所述调试信息存储在所述存储装置中。
11.根据权利要求10所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述监测单元包括:
比较器,被配置成接收与所监测事件的计数数目对应的事件计数值,且被配置成将所述事件计数值与参考值进行比较以产生所述监测信号。
12.根据权利要求10所述的包括死锁检测器的系统,其特征在于,所述监测单元包括:
计数器,被配置成接收指令退休信号,所述指令退休信号是每当所述处理器的每一指令得到执行且完成时以脉冲形式被激活,且所述计数器被配置成通过执行计数操作来产生计数信号,并且所述计数器被配置成响应于所述指令退休信号的脉冲而复位;以及
比较器,被配置成将所述计数信号的值与参考值进行比较,以产生所述监测信号。
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