[发明专利]光学触控系统的曝光方法及使用该方法的光学触控系统在审
申请号: | 201710946439.7 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN107728858A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 高铭璨;苏宗敏;林志新 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司11283 | 代理人: | 金旭鹏,肖冰滨 |
地址: | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 系统 曝光 方法 使用 | ||
本申请是申请日为2012年10月31日,申请号为“201210429776.6”,发明名称为“光学触控系统的曝光方法及使用该方法的光学触控系统”的中国专利申请的分案申请。
技术领域
本发明是关于一种光学触控系统,特别是关于一种可缩短所有图像传感器获取一张亮图像及一张暗图像所需的总采样时间的光学触控系统的曝光机制及使用所述机制的光学触控系统。
背景技术
光学触控系统通常利用多个图像传感器轮流获取包含触控面图像的多个图像帧,并根据所述图像帧中手指图像的位置来进行物体定位。
例如参照图1A所示,其显示一种已知光学触控系统9的示意图,其包含触控面91、四个图像传感器921-924以及四个主动光源931-934。当每一所述图像传感器921-924获取图像时,相关的所述主动光源931-934发光以提供获取图像时所需的光。
已知可通过计算亮图像及暗图像的差分图像以消除环境光的影响。
例如参照图1B所示,所述图像传感器921相对所述主动光源931发光时获取亮图像ION后,再相对所述主动光源931熄灭时获取暗图像IOFF;所述图像传感器922-924也一样。处理单元(未图示)则计算所述亮图像ION及所述暗图像IOFF的差分图像(ION-IOFF)并根据所述差分图像进行物体定位。假设所述图像传感器921-924的采样时间为T,则所有图像传感器921-924获取完一张亮图像ION及一张暗图像IOFF总共必须花费8T的时间,如此会降低所述图像传感器921-924所获取图像的同步性。尤其当图像传感器的数目愈多时,所有图像传感器获取完一张亮图像及一张暗图像所需花费的时间愈长。
有鉴于此,本发明还提出一种光学触控系统的曝光机制及使用所述机制的光学触控系统,其可缩短一个采样循环所花费的总时间,故可增加多个图像传感器获取图像帧的同步性以提高定位精确度。
发明内容
本发明的目的在提供一种光学触控系统的曝光机制及使用所述机制的光学触控系统,其具有较短的采样循环时间并可提高系统操作频率。
本发明另一目的在提供一种光学触控系统的曝光机制及使用所述机制的光学触控系统,其可消除环境光影响。
本发明提供一种光学触控系统的曝光方法,所述光学触控系统包含多个图像传感器和多个主动光源。所述曝光方法包含:利用所述图像传感器以采样循环获取图像帧以使每一个所述图像传感器获取亮图像,其中所述采样循环包含多个工作模式且每一个所述工作模式中所述多个主动光源的至少一个发光以使相对应的所述图像传感器以采样时间获取所述亮图像;以及利用所有所述图像传感器在所有所述多个主动光源皆熄灭的相同去噪采样时间获取暗图像。
本发明还提供一种光学触控系统,包含一个触控面、多个反光条、第一图像传感器、第一主动光源、第二图像传感器以及第二主动光源。所述多个反光条分别设置于所述触控面的边缘。所述第一图像传感器于第一采样时间和去噪采样时间获取横跨所述触控面的图像帧,以分别获取第一亮图像和第一暗图像。所述第一主动光源相对所述第一采样时间发光并相对所述去噪采样时间熄灭。所述第二图像传感器于第二采样时间和所述去噪采样时间获取横跨所述触控面的图像帧,以分别获取第二亮图像和第二暗图像,且所述第一采样时间早于或晚于所述第二采样时间。所述第二主动光源相对所述第二采样时间发光并相对所述去噪采样时间熄灭。
本发明还提供一种光学触控系统,包含触控面、多个发光条、第一图像传感器以及第二图像传感器。所述多个发光条分别设置于所述触控面的边缘。所述第一图像传感器于第一采样时间和去噪采样时间获取横跨所述触控面的图像帧以分别获取第一亮图像和第一暗图像,且位于所述第一图像传感器的视野范围内的所述发光条相对所述第一采样时间发光并相对所述去噪采样时间熄灭。所述第二图像传感器于第二采样时间和所述去噪采样时间获取横跨所述触控面的图像帧以分别获取第二亮图像和第二暗图像,且位于所述第二图像传感器的视野范围内的所述发光条相对所述第二采样时间发光并相对所述去噪采样时间熄灭,所述第一采样时间早于或晚于所述第二采样时间。
一实施例中,每一所述工作模式的所述采样时间相同且所述采样时间相同于所述去噪采样时间。
一实施例中,每所述工作模式的所述采样时间不同且所述去噪采样时间等于最短的所述采样时间。
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