[发明专利]一种用于磁通门磁芯性能检测装置和方法在审

专利信息
申请号: 201710939994.7 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN107728093A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 赵琳;杜爱民;孙树全;张莹;冯晓;李智 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司11570 代理人: 刘杰
地址: 100020 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 磁通门磁芯 性能 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于磁通门磁芯性能检测的装置,其特征在于,包括:

屏蔽筒,多层结构,每层结构均有上盖,所述多层屏蔽筒固定在支架结构上,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境,所述屏蔽筒的材料为坡莫合金;

旋转单元,固定在支架结构上,包括电机和旋转轴,并通过旋转轴与检测平台相连,用于为检测平台提供旋转动力;

检测平台,固定在屏蔽筒内的旋转轴上,用于安装待测磁芯,所述检测平台的材料是铝合金;

电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路;

支架结构,与屏蔽筒、旋转单元和电子箱相连,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。

2.如权利要求1所述的磁通门磁芯检测的装置,其特征在于,所述磁芯检测的装置还包括与所述电路模块相连的计算机装置,用于向电路模块发送指令。

3.如权利要求1所述的磁通门磁芯检测的装置,其特征在于,所述旋转单元的电机通过变速齿轮组与旋转轴相连,所述变速齿轮组的变速档位可调。

4.如权利要求1所述的磁通门磁芯检测的装置,其特征在于,所述检测平台可以安装多个待测磁芯。

5.一种利用权利要求1至4任意一项所述装置来检测磁通门磁芯性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将待测磁芯固定在检测平台上;

(2)盖好屏蔽筒的上盖,确保屏蔽筒四周完全封闭;

(3)启动电路模块,输入交变激励电流;

(4)调节电路模块参数,使得磁芯周期性达到最佳饱和状态。

6.如权利要求5所述的检测磁通门磁芯性能的方法,其特征在于,一次测试可测试多个待测磁芯。

7.如权利要求5所述的检测磁通门磁芯性能的方法,其特征在于,启动电路模块后,控制旋转单元启动,带动待测磁芯绕旋转轴匀速转动。

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