[发明专利]相位偏差获取方法及系统、相位校准方法及系统有效
申请号: | 201710907078.5 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN109581254B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 何金强;赵静;匡斌 | 申请(专利权)人: | 西门子(深圳)磁共振有限公司 |
主分类号: | G01R33/58 | 分类号: | G01R33/58 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518057 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 偏差 获取 方法 系统 校准 | ||
1.一种相位偏差获取方法,其特征在于,包括:
获取一磁共振系统中一线圈单元到一线圈通道选择器的任一条输入通道j途经所有输出通道到一模拟接收机的一个行相位偏差
以及获取所述线圈单元到所述线圈通道选择器的所有输入通道途经任一条输出通道i到所述模拟接收机的一个列相位偏差
通过所述行相位偏差和列相位偏差获得所述磁共振系统中所述线圈单元到所述线圈通道选择器的任一条输入通道m途经任一输出通道n到模拟接收机的相位偏差得到所述相位偏差矩阵中的任一元素值
其中,i、j、m、n分别为正整数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过所述行相位偏差和列相位偏差获得所述磁共振系统中所述线圈单元到所述线圈通道选择器的任一条输入通道m途经任一输出通道n到模拟接收机的相位偏差包括:
以所述行相位偏差和列相位偏差分别作为一相位偏差矩阵的行基准值和列基准值,通过下式所述相位偏差得到所述相位偏差矩阵中的任一元素值
其中,为行相位偏差的一个行元素,为列相位偏差的一个列元素,为一个行列交叉元素;
m为正整数变量,n为正整数变量,M、N分别为所述相位偏差矩阵的最大行列数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述相位偏差矩阵为:
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述一个行元素的方法为:测量所述磁共振系统中从所述线圈单元经过所述线圈通道选择器的第j条输入通道的输入相位偏差以及测量所述磁共振系统中从所述线圈通道选择器的第n条输出通道到达所述模拟接收机的输出相位偏差ωn,上述两项之和即为所述行相位偏差中的行元素
获取所述一个列元素的方法为:测量所述磁共振系统中从所述线圈单元经过所述线圈通道选择器的第m条输入通道的输入相位偏差以及测量所述磁共振系统中从所述线圈通道选择器的第i条输出通道到达所述模拟接收机的输出相位偏差ωi,上述两项之和即为所述列相位偏差中的列元素
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述任一条输入通道j为第一条输入通道;所述任一条输出通道i为第一条输出通道;
其中,
所述相位偏差为
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还应用于射频接收链路的故障分析。
7.一种相位偏差获取系统,其特征在于,包括:
一行相位偏差获取模块,用于获取一磁共振系统中一线圈单元到一线圈通道选择器的任一条输入通道j途经所有输出通道到一模拟接收机的行相位偏差
一列相位偏差获取模块,用于获取所述线圈单元到所述线圈通道选择器的所有输入通道途经任一条输出通道i到所述模拟接收机的列相位偏差
一计算模块,用于通过行相位偏差和列相位偏差计算所述磁共振系统中所述线圈单元到所述线圈通道选择器的任一条输入通道m途经任一输出通道n到模拟接收机的相位偏差获取所述相位偏差矩阵中的任一元素值
其中,i、j、m、n分别为正整数。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述行相位偏差获取模块和/或所述列相位偏差获取模块进一步包括:
一第一测量单元,用于测量磁共振系统中从线圈单元经过线圈通道选择器的任一条输入通道的输入相位偏差;
一第二测量单元,用于测量磁共振系统中从线圈通道选择器的任一条输出通道到达模拟接收机的输出相位偏差;和
一求和单元,用于计算所述输入相位偏差与所述输出相位偏差之和,得到所述行相位偏差和/或所述列相位偏差
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