[发明专利]阈值电压漂移的检测方法和装置

说明书

本发明提供一种阈值电压漂移的检测方法和装置。所述阈值电压漂移的检测方法包括：在第一时间段，向外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压，以控制外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管导通；在第二时间段，向外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压，以控制外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管关断；在第二时间段，经过预定检测时间后，根据液晶层的亮度，以判断相应的外部补偿像素驱动电路包括的驱动晶体管的阈值电压与标准阈值电压之间的电压差值的绝对值是否大于预定阈值电压差值。本发明可以判断相应的外部补偿像素驱动电路包括的驱动晶体管的阈值电压漂移程度是否过大，以准确检测阈值电压漂移，并准确定位阈值电压漂移位置。

技术领域

本发明涉及阈值电压漂移检测技术领域，尤其涉及一种阈值电压漂移的检测方法和装置。

背景技术

制作OLED(有机发光二极管)屏幕是非常复杂的，每一层都需要耗费很大的人力物力。通常先在Array(阵列)工艺段完成Array基板的制作，在制作阵列基板上，先在衬底基板上依次制作栅金属层、栅绝缘层、有源层、刻蚀阻挡层、源漏金属层、钝化层、OLED发光层、阳极层。在做完由ITO(氧化铟锡)制成的阳极层后会进行Array Test(阵列测试)，其实就是个选择的过程，对于性能好的glass(玻璃)留下并送往下一阶段，对于不符合要求的玻璃在这一阶段就把它筛选掉。然而在目前的阵列测试中很难检测出不良点，因为显示面板设计采用的是全面板电源线(VDD mesh)的设计，电源电压输入端给入正的大电压这会使得阵列检测时与检测仪器端的导电电极层(所述导电电极层与待测基板之间设置有液晶层)产生电压差形成电容，使得原本应该是暗点的不良在设备上也显示为亮点。如何规避全面板电源线结构产生的line(线)charging(充电)影响以准确检测驱动晶体管的阈值漂移是技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种阈值电压漂移的检测方法和装置，解决现有技术中由于显示面板设计采用的是全面板电源线的设计，电源电压输入端给入正的大电压这会使得阵列检测时与检测仪器端的导电电极层产生电压差形成电容，使得原本应该是暗点的不良在设备上也显示为亮点，从而导致阈值电压漂移检测结果不准确的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种阈值电压漂移的检测方法，采用外部检测仪器以检测待测基板包括的外部补偿像素驱动电路包括的驱动晶体管的阈值电压漂移，所述待测基板包括衬底基板以及设置于所述衬底基板上的阳极层和阵列排布的多个外部补偿像素驱动电路，所述阳极层位于所述待测基板的最上方；所述阳极层包括阵列排布的多个阳极，一所述阳极与一所述外部补偿像素驱动电路对应连接；所述外部补偿像素驱动电路还与数据线、数据写入控制端、电源电压输入端、外部补偿控制端和外部补偿线连接；所述外部检测仪器包括导电电极层和液晶层；所述导电电极层接入预定电极电压；一检测阶段包括依次设置的第一时间段和第二时间段，所述阈值电压漂移的检测方法包括：

在一检测阶段，向所述电源电压输入端提供预定电源电压，向所述数据线提供预定数据电压，向所述数据写入控制端提供预定数据写入控制电压，以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的数据写入晶体管导通，向所述外部补偿线提供预定外部补偿电压；所述预定电源电压与所述预定电极电压之间的电压差值的绝对值小于第一预定电压差值；

在该检测阶段包括的第一时间段，向所述外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压，以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管导通；在该检测阶段包括的第二时间段，向所述外部补偿控制端提供第二外部补偿控制电压，以控制所述外部补偿像素驱动电路包括的外部补偿控制晶体管关断；

在该检测阶段包括的第二时间段，将所述阳极层与所述检测仪器包括的导电电极层相对设置，并控制所述液晶层设置于该阳极层与该导电电极层之间，经过预定检测时间后，根据所述液晶层的亮度，以判断相应的外部补偿像素驱动电路包括的驱动晶体管的阈值电压与标准阈值电压之间的电压差值的绝对值是否大于预定阈值电压差值；

所述标准阈值电压为该驱动晶体管未发生阈值电压漂移时的阈值电压。