[发明专利]一种MIPI液晶模组OTP烧录方法在审

专利信息
申请号: 201710890246.4 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN107450208A 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 李松强;赵红松;黄忠乐 申请(专利权)人: 重庆中显智能科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G09G3/00
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 胡柯
地址: 401329 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 mipi 液晶 模组 otp 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种MIPI液晶模组OTP烧录方法。

背景技术

液晶模组在显示画面时,由于工作原理决定,总会存在ficker闪烁现象,而Flicker闪烁度比较大时,会造成人的视觉疲劳及其它不适,而这个闪烁度主要是和液晶模组内部一个电压值VCOM有关。VCOM是液晶模组控制板端的一个电压值,控制板驱动电路存在一个正负反转电压,Vcom需要设置在这个正负反转电压的最中心点,通过调整Vcom的值,可将模组的flicker(闪烁度)值调整至最小,使模组显示效果达到最好。

而当前最佳VCOM值OTP时,需要操作人员通过手动按键不断改变VCOM值,待测MIPI液晶模组的VCOM电压被改变,模组的Flicker闪烁度也相应发生变化,操作人员通过人眼观察MIPI液晶模组此时VCOM数值所对应的闪烁程序的变化,来将MIPI液晶模组的Flicker闪烁度调节到最佳状态,同时再手动按键OTP此最佳VCOM值到模组中。原来的操作方法复杂,对产线人员要求高,人员在调整最佳VCOM值时容易出错,工作时间长后,操作人员容易出现视觉疲劳,从而出现错误。

发明内容

针对以上不足,本发明的目的就是提供一种MIPI液晶模组OTP烧录方法,消除因人为因素导致对闪烁度最小值判定标准的不一致,减少人为操作的失误,提高OTP烧录效率和准确率。

本发明的目的是通过这样的技术方案实现的,一种MIPI液晶模组OTP烧录方法,包括有主控制器,MIPI桥接芯片,光电转换探头,电压放大运算器,AD转换模块,待测MIPI液晶模组;包括以下步骤:

步骤一:所述主控制器发送测试参数给MIPI桥接芯片;

步骤二:所述MIPI桥接芯片接收测试参数并进行转换后传输给待测试MIPI液晶模组;

步骤三:所述待测MIPI液晶模组被点亮,所述待测MIPI液晶模组的画面切换为闪烁度画面;

步骤四:所述光电转换探头采集MIPI液晶模组闪烁度的值,并将转换为电压信号;

步骤五:所述电压信号经过电压放大运算器放大;

步骤六:所述AD转换模块将电压信号转换为数字信号,并将数字信号反馈给主控制器;

步骤七:所述主控制器通过对待测MIPI液晶模组的VCOM值的自加自减运算,来控制待测MIPI液晶模组闪烁度画面的闪烁度的值,并通过光电转换探头采集闪烁度的值;

步骤八:所述计算机运算得到闪烁度最小值和相对应的VCOM值,并自动OTP烧录到待测MIPI液晶模组。

进一步,所述主控制器为ARM9主控制器。

进一步,MIPI模组的OTP流程将VCOM值烧写到模组驱动IC内。

进一步,所述步骤六中所述AD转换模块将电压信号转换为十六位的数字信号。

进一步,所述步骤八中计算机通过运算对比得到闪烁度最小值和相对应的VCOM值。

进一步,所述VCOM值为液晶模组控制板端的一个电压值。

由于采用上述技术方案,本发明具有如下的优点:通过ARM9主控制器发送测试参数给MIPI桥接芯片,MIPI桥接芯片经过转换后,传输给待测试MIPI液晶模组,此时待测MIPI液晶模组被点亮,将待测MIPI液晶模组的画面切换为闪烁度画面,此时光电转换探头采集MIPI液晶模组闪烁度的值,并将转换为电压信号,经过电压放大运算器放大后,进入AD转换模块转换为数字信号,反馈给ARM9主控制器。ARM9主控制器通过对VCOM值的自加自减运算,来控制待测MIPI液晶模组Flicker画面的闪烁度的值,使得消除因人为因素导致对闪烁度最小值判定标准的不一致,减少人为操作的失误,提高OTP烧录效率和准确率。

本发明的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书和权利要求书来实现和获得。

附图说明

本发明的附图说明如下。

图1为本发明流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

如附图1所示,本发明公开了一种MIPI液晶模组OTP烧录方法,包括ARM9主控制器,MIPI桥接芯片,光电转换探头,电压放大运算器,AD转换模块,待测MIPI液晶模组。

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