[发明专利]用于对样品的光学性质进行光谱学测量的方法和系统

权利要求书

1.用于样品的光学性质的频谱分辨测量的方法，包括：

将样品布置在测量位置（MP）处；

使用光源（LQ）生成光；

在第一光学路径（P1）中向样品（P）传送作为激发光的光的频谱分量；以及

在第二光学路径（P2）中向检测器（DET）传送已经由样品发射或透射的光；

其中可调谐单色仪（MC1、MC2）布置在第一光学路径中和/或第二光学路径中；

通过使可调谐单色仪的频谱通道范围偏移而在有效频谱范围之上记录发射光或透射光的频谱，

其特征在于

使用以具有可指定脉冲频谱的光脉冲的形式的光；

以偏移速度连续地从初始波长向结束波长偏移可调谐单色仪的频谱通道范围以用于记录频谱；以及

经由控制器使光的脉冲频率与频谱通道范围的偏移速度同步使得发射光或透射光的多个测量发生在对应多个频谱支持点（ST1、ST2、STn）处的有效频谱范围内。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以具有可指定脉冲频率的光脉冲的形式将激发光辐射到样品上，其中优选地，以具有可指定脉冲频率的光脉冲的形式的激发光经由脉冲光源（LQ）而生成。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，频谱通道范围在恒定偏移速度下从开始位置向结束位置连续地偏移。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，频谱通道范围在变化的偏移速度下从开始位置向结束位置偏移，其中偏移速度取决于频谱的至少一个性质而变化。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在通道范围的偏移期间确定连续频谱支持点之间的所检测的光中的强度改变，并且通道范围的偏移速度取决于所述强度改变而改变。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在频谱的记录开始之前，存在速度变化函数的参数，并且取决于速度变化函数来控制偏移速度。

7.根据权利要求4、5或6所述的方法，其特征在于，与连续频谱支持点之间的强度改变反比例地执行偏移速度的控制或调节，使得具有相对强的强度改变的频谱范围以相对较小的偏移速度和对应地较高的支持点密度来行进，并且具有相对较弱的强度改变的频谱范围以相对较大的偏移速度和较低的支持点密度来行进。

8.根据前述权利要求中的一项所述的方法，其特征在于，在有效频谱范围之上的频谱的记录以脉冲频率与频谱通道范围的偏移速度相同的同步而重复至少一次，并且以波长正确的方式使针对每一个记录所获得的测量值相加。

9.用于样品的光学性质的频谱分辨测量的系统（SYS），包括：

样品保持设备，用于将样品布置在测量位置（MP）处；

光源（LQ），用于生成光；

检测器（DET）；

控制单元（SE）；

第一光学路径（OP1），用于向样品（P）传送作为激发光的光的频谱分量；以及

第二光学路径（OP2），用于向检测器（DET）传送已经由样品发射或透射的光；

其中由控制单元（SE）可控制的可调谐单色仪（MC1、MC2）布置在第一光学路径（OP1）中和/或第二光学路径（OP2）中；

其中所述系统设立为通过使可调谐单色仪的频谱通道范围偏移而在有效频谱范围（SPE）之上记录发射光或透射光的频谱，

其特征在于

控制单元（SE）具有用于记录频谱的操作模式，其中控制单元配置为使得：

所述系统被控制为使得使用以具有可指定脉冲频率的光脉冲的形式的光；

以偏移速度连续地从初始波长向结束波长偏移可调谐单色仪（MC1、MC2）的频谱通道范围以用于记录频谱；以及

经由控制而使光的脉冲频率与频谱通道范围的偏移速度同步，使得发射光或透射光的多个测量发生在对应多个频谱支持点（ST1、ST2、STn）处的有效频谱范围内。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，在操作模式期间，光源（LQ）被控制为使得生成以具有可指定脉冲频率的光脉冲（PU）的形式的激发光。

11.根据权利要求9或10所述的系统，其特征在于，可调谐单色仪是具有可调节色散元件的色散单色仪、或者可调谐滤波器单色仪、或者可调谐干涉单色仪。

12.根据权利要求9、10或11所述的系统，其特征在于，所述系统集成在多技术读取器中。