[发明专利]CF基板的微观缺陷检测方法、装置及设备

权利要求书

1.一种CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取所述CF基板的灰阶图像；

检测所述灰阶图像的待检测点的灰阶值；

获取所述待检测点所在的色彩区域对应的正常灰阶值范围；

判断所述待检测点的灰阶值是否在对应的正常灰阶范围内；

若所述待检测点的灰阶值不在对应的正常灰阶范围内，则判断所述待检测点为异常点。

2.如权利要求1所述的CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，所述CF基板的微观缺陷检测方法还包括：

针对所述CF基板的各个色彩制程的正常色彩区域分别设置相应的正常灰阶值范围。

3.如权利要求1所述的CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，所述CF基板的微观缺陷检测方法还包括：

检测所述待检测点周围的对比像素点的灰阶值，其中，所述对比像素点与所述待检测点相距预设距离，且属于同一色彩区域；

计算所述待检测点的灰阶值与所述对比像素点的灰阶值之间的差值；

判断所述差值的绝对值是否大于预设阈值；

若所述差值的绝对值大于所述预设阈值，则判断所述待检测点为异常点。

4.如权利要求3所述的CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，所述对比像素点至少包括与所述待检测点在同一水平方向上的对比像素点和与所述待检测点在同一垂直方向上的对比像素点。

5.如权利要求4所述的CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，所述预设距离至少包括水平方向的距离值和垂直方向的距离值，所述预设距离为同一方向上的一个或多个重复周期的相同色彩区域之间的距离。

6.一种CF基板的微观缺陷检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取所述CF基板的灰阶图像；

检测模块，用于检测所述灰阶图像的待检测点的灰阶值；

所述获取模块还用于获取所述待检测点所在的色彩区域对应的正常灰阶值范围；

分析模块，用于判断所述待检测点的灰阶值是否在对应的正常灰阶范围内；

所述分析模块还用于在所述待检测点的灰阶值不在对应的正常灰阶范围内时，判断所述待检测点为异常点。

7.如权利要求6所述的CF基板的微观缺陷检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置模块，所述设置模块用于针对所述CF基板的各个色彩制程的正常色彩区域分别设置相应的正常灰阶值范围。

8.如权利要求6所述的CF基板的微观缺陷检测装置，其特征在于，所述检测模块还用于检测所述待检测点周围的对比像素点的灰阶值，其中，所述对比像素点与所述待检测点相距预设距离，且属于同一色彩区域；

所述检测装置还包括计算模块，所述计算模块用于计算所述待检测点的灰阶值与所述对比像素点的灰阶值之间的差值；

所述分析模块还用于判断所述差值的绝对值是否大于预设阈值，并在所述差值的绝对值大于所述预设阈值时，判断所述待检测点为异常点。

9.如权利要求8所述的CF基板的微观缺陷检测装置，其特征在于，所述对比像素点至少包括与所述待检测点在同一水平方向上的对比像素点和与所述待检测点在同一垂直方向上的对比像素点；以及

所述预设距离至少包括水平方向的距离值和垂直方向的距离值，所述预设距离为同一方向上的一个或多个重复周期的相同色彩区域之间的距离。

10.一种CF基板的微观缺陷检测设备，包括图像采集单元、存储器以及处理器，所述图像采集单元用于对放入所述检测设备的CF基板进行拍照，以获取所述CF基板的灰阶图像，其特征在于，所述处理器用于执行所述存储器中的存储的计算机程序时实现如权利要求1-5任一项所述的CF基板的微观缺陷检测方法的步骤，以对所述CF基板的灰阶图像上的待检测点进行异常检测。