[发明专利]一种电子设备的检测方法和装置

说明书

本发明公开了一种电子设备的检测方法及装置，该方法包括：当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC获取与所述错误相关的第一信息；利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息；通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC。该方法能够使用户在不能对电子设备进行特定操作的情况下(如智能手机的触控屏损坏而不能对该智能手机进行操作的情况下)，使用备用设备对电子设备中存储的数据进行调用，以便对数据进行查看，简单方便且满足用户需要。

技术领域

本发明涉及电子设备的故障检测领域，特别涉及一种电子设备的检测方法和装置。

背景技术

电子设备在运行过程中会出现各种各样的错误，例如经常出现内部检验错误(IERR)，尤其是内部检验错误中出现概率最高的MLC 3-strike timeout错误，此时需要使用服务器等电子设备的BMC通过PECI总线去读取相应寄存器中存储的数据，并使用BMC对该数据进行解析，以检验电子设备中出现错误的位置及其相对应的部件。但是由于寄存器数量众多，而且在PECI总线中数据交换较慢，因此该检验方式大幅增加了BMC响应时间，严重影响BMC工作效率，从而导致服务器等电子设备运行效率极低。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种电子设备的检测方法和装置，该方法能够利用BIOS对电子设备中出现错误的位置进行解析，提高BMC工作效率，实现方式简单有效。

为了解决上述技术问题，本发明的实施例采用了如下技术方案：一种电子设备的检测方法，包括：

当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC获取与所述错误相关的第一信息；

利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息；

通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC。

作为优选，所述的当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC获取与所述错误相关的第一信息包括：

使用所述BMC从所述电子设备的内部检验错误对应的第一寄存器中获取存储的数据，其中所述第一寄存器为所述电子设备的CPU的内部寄存器；

根据所述数据判断所述电子设备是否出现所述错误；

如果是，则利用所述BMC从所述数据中获取所述第一信息。

作为优选，所述的利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息包括：

所述BIOS从所述CPU的内部的第二寄存器中获取系统地址映射；

通过所述系统地址映射从所述第一信息中获取所述地址信息。

作为优选，所述的通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC包括：

通过所述BIOS对所述地址信息进行解析，确定出现所述错误的位置对应的电子设备的部件；

使用预设修复方式对所述部件进行修复。

作为优选，所述方法还包括：

从所述第一寄存器中获取其存储的所述数据；

根据所述数据判断所述错误是否仍然存在；

如果是则停止使用所述错误的位置对应的所述电子设备的部件，并记录所述部件的日志信息。

本发明实施例还提供了一种电子设备的检测装置，包括相互连接的获取模块和解析模块，