[发明专利]一种电子设备的检测方法和装置

权利要求书

1.一种电子设备的检测方法，包括：

当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC从所述电子设备的CPU获取与所述错误相关的第一信息，其中所述错误包括所述电子设备的内部检验错误；

利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息；

通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC；其中，

所述的当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC从所述电子设备的CPU获取与所述错误相关的第一信息包括：

使用所述BMC从所述电子设备的内部检验错误对应的第一寄存器中获取存储的数据，其中所述第一寄存器为所述电子设备的CPU的内部寄存器；

根据所述数据判断所述电子设备是否出现所述错误；

如果是，则利用所述BMC从所述数据中获取所述第一信息。

2.根据权利要求1所述的方法，所述的利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息包括：

所述BIOS从所述CPU的内部的第二寄存器中获取系统地址映射；

通过所述系统地址映射从所述第一信息中获取所述地址信息。

3.根据权利要求1所述的方法，所述的通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC包括：

通过所述BIOS对所述地址信息进行解析，确定出现所述错误的位置对应的电子设备的部件；

使用预设修复方式对所述部件进行修复。

4.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：

从所述第一寄存器中获取其存储的所述数据；

根据所述数据判断所述错误是否仍然存在；

如果是则停止使用所述错误的位置对应的所述电子设备的部件，并记录所述部件的日志信息。

5.一种电子设备的检测装置，包括相互连接的获取模块和解析模块，

所述获取模块配置为当所述电子设备出现错误时，通过所述电子设备的BMC从所述电子设备的CPU获取与所述错误相关的第一信息，并利用所述电子设备的BIOS，从所述第一信息中获取所述错误对应的地址信息，其中所述错误包括所述电子设备的内部检验错误；

所述解析模块配置为通过所述BIOS对所述地址信息进行解析以查找出现所述错误的位置，并将解析结果发送至所述BMC；其中，

所述获取模块包括判断单元，

所述获取模块进一步配置为使用所述BMC从所述电子设备的内部检验错误对应的第一寄存器中获取存储的数据，其中所述第一寄存器为所述电子设备的CPU的内部寄存器；

所述判断单元配置为根据所述数据判断所述电子设备是否出现所述错误，如果是，则所述获取模块利用所述BMC从所述数据中获取所述第一信息。

6.根据权利要求5所述的装置，所述获取模块进一步配置为利用所述BIOS从所述CPU的内部的第二寄存器中获取系统地址映射，以通过所述系统地址映射从所述第一信息中获取所述地址信息。

7.根据权利要求5所述的装置，所述解析模块进一步配置为通过所述BIOS对所述地址信息进行解析，确定出现所述错误的位置对应的电子设备的部件，并使用预设修复方式对所述部件进行修复。

8.根据权利要求5所述的装置，所述装置还包括检验模块和记录模块，

所述检验模块配置为从所述第一寄存器中获取其存储的所述数据，并根据所述数据判断所述错误是否仍然存在，如果是则停止使用所述错误的位置对应的所述电子设备的部件，并使所述记录模块记录所述部件的日志信息。