[发明专利]一种图像检测方法及图像检测设备

说明书

本发明提供一种图像检测方法及图像检测设备。其中，图像检测方法包括：获取待检测的膜层图形，所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形；从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域；按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测。本发明的方案可以主动识别出连续的膜层子图形的区域，并按照对应的检测规则进行检测。因此，在应用到检测彩膜基板的Dummy BM区时，能够避免将黑矩阵膜层之间的空隙区域也作为黑矩阵膜层的一部分进行检测，可避免彩膜基板被误检而导致无故报废。

技术领域

本发明涉及产品质量的检测领域，特别是一种图像检测方法及图像检测设备。

背景技术

彩膜基板是用来实现彩色显示的主要器件，是液晶显示器的重要组成部分。

现有的彩膜基板一般包括：黑矩阵(BM)、彩色光阻(RGB)、绝缘覆盖层(OC)、导电层及支撑液晶盒厚的隔垫物(PS)。BM层及RGB层所形成的图形(Pattern)均称为ColorPattern。在制作BM及RGB工艺时，不可避免的会产生Color Pattern缺失等缺陷，彩膜基板各工序产生的缺陷可通过光学检测机来检测，以及时拦截不良品流入后续工序，避免造成巨大的成本浪费。

目前光学检测机的有效检测区域有两个部分：有效显示区(即AA区)和边框区(即Dummy BM区，也可以称非显示区)。光学检测机应在对有效检测区域进行检测时，针对不同的产品对应有不同的检测参数。传统设计的Dummy BM区全部为BM膜层，因此Dummy BM区检测仅需设置一个参数，光学检测机根据该参数设定将整个Dummy BM区作为一个有效检测区域进行检测。

随着液晶显示器的技术发展，目前提出了一种在Dummy BM区的黑矩阵膜层中挖槽以阻止静电进入像素内部的技术方案。在具体实现时，不同产品的彩膜基板所对应的挖槽结构各式各样，且挖槽区域不设置黑矩阵膜层，这就会使得光学检测机用传统的方式对Dummy BM区进行检测时，将挖槽区域误检为缺陷图形，从而导致出现大量误检点。而误检的缺陷一旦达到一定程度则会认定彩膜基板无法修复，后续被报废处理，造成资源的浪费。

发明内容

本发明的目的是提供一种图像检测方法及图像检测设备，能够解决光学检测机在检测Dummy BM区时，因黑矩阵膜层上的挖槽结构，而将黑矩阵膜层误检为缺陷图形的问题。

为实现上述目的，一方面，本发明的实施例提供一种图像检测方法，包括：

获取待检测的膜层图形，所述待检测的膜层图形包括多个不连续的膜层子图形；

从所述膜层图形中识别出设置有连续完整的膜层子图形的第一检测区域；

按照预定第一检测规则对所述第一检测区域的膜层子图形进行检测。

其中，所述图像检测方法还包括：

从所述膜层图形中识别出第二检测区域，所述第二检测区域为相邻的两个连续完整的膜层子图形之间的间隙区域；

按照预定第二检测规则对所述第二检测区域进行检测。

其中，识别所述膜层图形中的第一检测区域和/或第二检测区域的步骤，包括：

识别所述膜层图形中的各膜层子图形的边界线；

根据各膜层子图形的边界线，确定各膜层子图形的设置区域，并将各膜层子图形的设置区域作为第一检测区域；

和/或，

根据各膜层子图形的边界线，确定各膜层子图形之间的间隙区域，并将间隙区域作为第二检测区域。

其中，所述膜层图形包括：第一膜层子图形和第二膜层子图形，所述第一膜层子图形和第二膜层子图形相互间隔，且第二膜层子图形位于所述第一膜层子图形与显示区域之间；