[发明专利]一种玻璃熔体高温电阻率的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及玻璃特性检测技术领域，具体是一种玻璃熔体高温电阻率的测试方法。

背景技术

随着玻璃熔制技术的迅速发展以及环境方面对于玻璃熔窑尾气排放标准的提高，电助熔技术在玻璃熔窑中被广泛采用，以其独特的优势得到了大家的认可：提高熔化率及熔化质量，减少一些结石缺陷的形成，延长窑炉寿命，减少环境污染等。

从玻璃熔体高温电阻率测试的意义来分析，不同温度下，分析玻璃熔体的电阻率参数变化能为料方的调整提供很好的参考作用；在电助熔窑中，玻璃熔体的高温电阻率变化是直接关系熔融玻璃液是否能有效促进玻璃熔化，减少结石，促进钧化和澄清，减少玻璃缺陷的关键指标；了解相关玻璃熔体的高温电阻率是设计电助熔窑的前提。

随着玻璃事业的进步，一些性能、配方与普通玻璃有着巨大差异的特种玻璃的需求日益增多，例如：TFT-LCD用玻璃基板，但这一系列玻璃熔体的高温电阻率还未有相关数据，所以玻璃熔体高温电阻率的测试方法必将为玻璃材料的进一步研究和生产起到积极的推动作用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种玻璃熔体高温电阻率的测试方法，通过该方法能够方便、快速地对玻璃熔体的电阻率进行测量与记录，为提高玻璃材料的性能提供依据。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种玻璃熔体高温电阻率的测试方法，包括以下步骤：

S1、将待测试玻璃料粉碎后置于瓷舟内，瓷舟两侧固定铂金片；

S2、将瓷舟置于立式高温炉的升降平台上，并与立式高温炉的热电偶紧密接触；铂金片通过铂金丝连接至数字电桥表的测试端；

S3、通过温度控制仪对立式高温炉进行升温，使瓷舟内的玻璃料熔融；

S4、对立式高温炉进行降温，降温过程中通过数字电桥表对熔融的玻璃料进行电阻值测试，每间隔时间T测试一次，得到在降温过程中不同温度下对应的一组电阻值，将每个电阻值分别减去铂金片及铂金丝的电阻值，即得到玻璃熔体在不同温度下对应的电阻值R；

S5、瓷舟冷却至室温后取出，测量玻璃体的长度L；对瓷舟纵向切割，测量玻璃体截面的长度与宽度，得到玻璃体截面积S；根据公式计算得到不同温度下玻璃熔体的电阻率ρ。

进一步的，所述步骤S3对立式高温炉升温时，以10℃/min的升温速率由室温升到1100℃，以5℃/min的升温速率由1100℃升到1600℃，并在1600℃保温0.5h～2h。

进一步的，所述步骤S4对对立式高温炉降温时，以4℃/min的降温速率由1600℃降至1100℃。

进一步的，所述步骤S4中的间隔时间T为5s，每次测试得到2～4个电阻值，取平均值后得到每次测试的电阻值。

本发明的有益效果是，由于处于熔融状态下的玻璃在直流电场作用下会产生极化现象，所以采用数字电桥表即能测出电阻值，通过控制玻璃熔体的降温速率，在不同的温度下采集得到相应的电阻值，最后根据公式计算得到不同温度下玻璃熔体的电阻率ρ。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：

图1是本发明的示意图；

图2是图1中瓷舟的放大示意图。

具体实施方式

结合图1与图2所示，本发明提供一种玻璃熔体高温电阻率的测试方法，包括以下步骤：

S1、将待测试玻璃料经过破碎、除杂、清洗、烘干制成1～10mm颗粒状，然后置于瓷舟5内，瓷舟5内两侧固定铂金片7；玻璃料约占瓷舟内体积的90%。

S2、将瓷舟5置于立式高温炉4的升降平台上，并与立式高温炉4的热电偶紧密接触；铂金片7通过铂金丝6连接至数字电桥表2的测试端；

将数字电桥表2与温度控制仪3分别连接至计算机系统1。

S3、通过温度控制仪3对立式高温炉4进行升温，使瓷舟5内的玻璃料熔融；计算机系统1将升温曲线发送给温度控制仪3，按照预设的升温速率进行升温；

作为优选的，以10℃/min的升温速率由室温升到1100℃，以5℃/min的升温速率由1100℃升到1600℃，并在1600℃保温0.5h～2h。

S4、对立式高温炉4进行降温，计算机系统1将降温曲线发送给温度控制仪3，按照预设的降温速率进行降温；作为优选的，以4℃/min的降温速率由1600℃降至1100℃；