[发明专利]XDR数据质量评估方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种XDR数据质量评估方法，其特征在于，包括：

获取XDR数据质量计算参数；

根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数；

根据所述XDR数据质量评估参数，获取对厂家XDR的数据质量评估结果；

其中，所述XDR数据质量计算参数包括根据厂家原始码流生成的合成XDR时，所述XDR数据质量评估参数包括原始码流重复上报率；

或者所述XDR数据质量计算参数包括厂家XDR，所述XDR数据质量评估参数包括厂家XDR重复上报率；

当或者所述XDR数据质量计算参数包括根据厂家原始码流生成的合成XDR以及所述厂家XDR时，所述XDR数据质量评估参数包括XDR合成成功率、XDR准确率、XDR偏差率、XDR字段完整率或XDR关键字段准确率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数，包括：

根据XDR ID，获取在预定时间内根据所述厂家原始码流生成的合成XDR的数量以及根据所述厂家原始码流重复生成的合成XDR的数量；

计算根据所述厂家原始码流生成的合成XDR的数量和根据所述厂家原始码流重复生成的合成XDR的数量的和；

将根据所述厂家原始码流重复生成的合成XDR的数量与所述和的商，作为原始码流重复上报率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数，包括：

根据XDR ID，获取在预定时间内厂家上报的XDR的数量以及厂家重复上报的XDR的数量；

计算所述厂家上报的XDR的数量和所述厂家重复上报的XDR的数量的和；

将所述厂家重复上报的XDR的数量与所述和的商，作为厂家XDR重复上报率。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数，包括：

对于每一目标XDR ID，在预定时间内获得根据厂家原始码流生成的合成XDR中，具有目标XDR ID的合成XDR的第一数量，以及厂家XDR中具有目标XDR ID的XDR的第二数量，并将所述第一数量和所述第二数量进行比较；

获得比较结果为不同的比较结果的数量，将所述数量作为偏差数；

将所述偏差数和在所述预定时间内根据所述厂家原始码流生成的合成XDR的数量的商，作为XDR合成成功率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数，包括：

对于在预定时间内的合成XDR和厂家上报的XDR，获取具有相同XDR ID的第一合成XDR和第一厂家XDR的第一数量；

将所述第一合成XDR和所述第一厂家XDR的每一字段进行对比；

获取每一字段的比较结果均为正确的XDR的第二数量；

将所述第二数量和所述第一数量的商作为XDR准确率。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述XDR数据质量计算参数确定XDR数据质量评估参数，包括：

对于在预定时间内的合成XDR和厂家上报的XDR，获取具有相同XDR ID的第一合成XDR和第一厂家XDR的第一数量；

将所述第一合成XDR和所述第一厂家XDR的每一字段进行对比；

获取每一字段的比较结果均为正确的XDR的第二数量；

计算所述第一数量和所述第二数量的差，将所述差作为偏差数；

将所述偏差数和所述第一数量的商作为XDR偏差率。