[发明专利]探针组件及测试设备

说明书

技术领域

本发明涉及液晶产品制作技术领域，尤其涉及一种探针组件及测试设备。

背景技术

在具有探针装置的电学测试设备中，探针装置扎针时需手动操作探针旋钮实现探针针尖与待测试器件的测试区域的表面接触，此种探针装置存在两个问题：1.探针与待测试器件的测试区域是否接触需用肉眼观察针的形变；2.探针与测试区域接触为硬性接触。这种硬性接触与观察探针形变来判断扎针状态的方式很大程度上增加了测试的难度，同时探针下扎时的形变加速了探针的损坏，破坏了测试区域表面的膜层沉积。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种探针组件及测试设备，解决了探针形变容易造成探针的损坏以及对待测试器件的损坏的问题。

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种探针组件，用于电学测试设备，包括探针本体，所述探针本体包括用于与待测试器件连接的测试端，以及与所述测试端相对的连接端；

固定基座，所述连接端通过一弹性连接结构固定连接于所述固定基座上。

进一步的，所述弹性连接结构为一弹性连接板。

进一步的，还包括用于支撑所述弹性连接板的刚性支撑结构，所述弹性连接板与所述刚性支撑结构接触连接，所述刚性支撑结构的一端固定连接于所述固定基座上。

进一步的，所述刚性支撑结构为板状结构。

进一步的，所述弹性连接板靠近所述探针本体的一端包括外露于所述刚性支撑结构的第一部分，所述第一部分悬空设置。

进一步的，还包括固定部，所述固定部包覆在所述弹性连接板与所述探针本体的连接处的外部。

进一步的，还包括延长杆，所述延长杆沿其长度方向包括相对的第一端和第二端，所述弹性连接板和所述刚性支撑结构连接于所述延长杆的第一端，所述延长杆的所述第二端固定连接于所述固定基座上。

进一步的，还包括用于传输所述探针本体的所述测试端的测试信号的信号线，所述信号线的一端与所述探针本体的连接端相连接，所述信号线的另一端与电学测试设备的信号接收结构连接。

进一步的，所述信号线的另一端穿过所述延长杆、所述固定基座与所述电学测试设备的信号接收结构连接。

进一步的，还包括用于检测所述探针本体的所述测试端与待测试器件的接触状态的接触状态检测单元，所述接触状态检测单元包括：

指示单元，设置于所述固定基座上；

控制单元，用于控制所述指示单元在第一指示状态和第二指示状态之间变化，其中，所述探针本体的所述测试端与待测试器件未接触或接触不良，所述指示单元处于所述第一指示状态；所述指示单元指示所述探针本体的所述测试端与待测试器件接触状态良好，所述指示单元处于所述第二指示状态。

进一步的，所述控制单元包括：常闭开关，包括设置于所述弹性连接板上的动触点，和设置于所述刚性支撑结构上的静触点；

所述弹性连接板与所述刚性支撑结构贴合，所述动触点与所述静触点连接，所述指示单元处于所述第一指示状态；

所述弹性连接板形变与所述刚性支撑结构分离，所述动触点与所述静触点分离，所述指示单元处于所述第二指示状态。

进一步的，所述弹性连接板为导电材料制作。

进一步的，所述指示单元包括指示灯，所述指示单元处于所述第一指示状态时，所述指示灯灭，所述指示单元处于所述第二指示状态时，所述指示灯亮。

本发明提供一种测试设备，包括上述的探针组件。

本发明的有益效果是：弹性连接结构的设置起到缓冲作用，弹性连接结构形变承担了探针与待测试器件接触时的力，避免探针与待测试器件接触探针本身形变对探针的损伤，且避免了对待测试器件的损伤。

附图说明

图1表示本发明实施例中探针组件结构示意图；

图2表示本发明实施例中探针组件局部结构示意图；

图3表示本繁忙实施例中探针组件局部结构放大示意图；

具体实施方式

以下结合附图对本发明的特征和原理进行详细说明，所举实施例仅用于解释本发明，并非以此限定本发明的保护范围。

如图1-3所示，本实施例提供一种探针组件，用于电学测试设备，包括探针本体1，所述探针本体1包括用于与待测试器件连接的测试端，以及与所述测试端相对的连接端；

固定基座3，所述连接端通过一弹性连接结构2固定连接于所述固定基座3上。