[发明专利]点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示器领域，特别涉及一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置。

背景技术

液晶显示面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要的检验程序就是对切割完成的液晶盒进行点灯测试(Light-on Test)，测试液晶盒是否存在缺陷。该测试过程如下：先对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好。

目前，点灯测试主要包括短路条(Shorting Bar)点灯测试和全接触(Full Contact)点灯测试两种。下面以具有阵列基板栅极驱动(Gate On Array，GOA)单元的液晶显示面板的点灯测试为例，对Shorting Bar点灯测试和Full Contact点灯测试进行说明：

Full Contact点灯测试是指，采用检测探针对液晶显示面板的阵列基板的引线(Lead)区域进行点灯测试，具体地，将检测探针与Lead区域的每根数据线引线连接，通过检测探针向其连接的数据线引线输入数据信号，进而检测对应的子像素是否存在不良(是否有亮点或亮线)。Shorting Bar点灯测试则是在Full Contact点灯测试的基础上，采用Shorting Bar将多根数据线引线相互连接，测试时可以通过检测探针向Shorting Bar输入数据信号，实现多个子像素的同时检测，在所有子像素测试完成后，需要通过切割技术将连接在数据线引线间的Shorting Bar切断，从而避免Shorting Bar影响液晶显示面板的正常工作。

对Shorting Bar进行切割，不仅会导致液晶显示面板的成本升高，而且增加了液晶显示面板的不良风险。

发明内容

为了解决现有技术中对Shorting Bar进行切割，不仅会导致液晶显示面板的成本升高，而且增加了液晶显示面板的不良风险的问题，本发明实施例提供了一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置。所述技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种点灯测试电路，所述点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与所述信号线引线一一对应设置的多个开关；

每根所述信号线引线的一端适用于连接信号线，每根所述信号线引线的另一端连接所述至少两根短路线中的一根，每根所述短路线与至少两根所述信号线引线连接；

每个所述开关设置在对应的所述信号线引线与所述短路线的连接点和对应的所述信号线引线与所述信号线的连接点之间，每个所述开关均连接有控制线。

在本发明实施例的一种实现方式中，每根所述短路线的至少一端设置有焊盘。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述焊盘为圆形焊盘或方形焊盘，所述圆形焊盘的直径或所述方形焊盘的边长为200-400um。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述点灯测试电路还包括虚设焊盘，所述虚设焊盘与所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。

在本发明实施例的另一种实现方式中，各个所述开关与同一根所述控制线电连接。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述控制线的一端设置有焊盘。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述信号线引线为数据线引线。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述点灯测试电路还包括多根阵列基板栅极驱动GOA驱动线，每根所述GOA驱动线的一端适用于连接一根GOA引线，每根所述GOA驱动线的另一端设置有外引脚贴合焊盘，任意两根所述GOA驱动线连接的所述GOA引线不同；所述GOA引线用于为GOA单元提供外部输入信号。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述多根信号线引线分为N组，相邻的N根所述信号线引线分别属于N组所述信号线引线，每组所述信号线引线连接同一根所述短路线，N为大于1的整数。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述N的取值为2、3或6。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述开关为半导体开关。

第二方面，本发明实施例还提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括第一方面任一项所述的点灯测试电路。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括第二方面所述的阵列基板。

第四方面，本发明实施例还提供了一种阵列基板制作方法，所述方法包括：