[发明专利]一种触摸屏防抖优化方法、系统及触摸屏终端

说明书

技术领域

本发明涉及触摸屏技术领域，尤其涉及一种触摸屏防抖优化方法、系统及触摸屏终端。

背景技术

随着电子信息产业的快速发展，触摸屏作为具有人机交互功能的智能产品，应用面极为广泛，但其存在着较多的触摸抖动问题。现有的去抖动方法是判断当前触点坐标与其前一个触点坐标的距离是否小于或等于阈值，借此判断当前的触点坐标是否发生抖动，如果发生抖动就将当前的触点坐标丢弃，这种方法极易造成画线不连续的问题；此外，以电阻触摸屏为例，普通去抖动方法只是通过延时采样剔除散点来解决，然而触摸屏越大，分布的杂散电容也越大，切换通道到稳定采样的时间也会越长，再使用上述方法就必须加大延时时间，必定会严重降低响应速率和ADC的使用效率，不能保证ADC采样的数据的准确性。

发明内容

针对上述存在的技术问题，本发明提供了一种触摸屏防抖优化方法、系统及触摸屏终端，所述触摸屏防抖优化方法包括以下步骤：连续获取触摸屏当前触点的坐标，对获取的坐标按照坐标值从小到大或从大到小排序，筛选排序得到序列两端的特定个数采样点的抖动坐标，去除抖动坐标；所述特定个数是触摸屏电容达到充电饱和前的采样点的个数。

优选地，还包括对去除抖动坐标后的触点坐标进行低通滤波；

优选地，多次获取触摸屏当前触点的坐标的具体步骤包括：

A1、识别触点信号，触发中断程序；

A2、切换坐标轴；

A3、ADC进行采样；

A4、采样结束，切换至另一坐标轴，ADC再次进行采样；

A5、再次采样结束，跳出中断程序；

A6、执行A1-A5。

优选地，所述触摸屏电容达到充电饱和前的采样点的个数为1～3个。

所述触摸屏防抖优化系统，包括获取模块，用于多次获取触摸屏当前触点的坐标；排序模块，用于对获取的坐标进行排序；筛选模块，用于筛选排序所得序列两端的特定个数的抖动坐标，并去除抖动坐标，所述获取模块、排序模块和筛选模块依次相连。

所述排序模块的排序是将采样按坐标值从大到小依次递减排序或从小到大依次递增排序。

所述筛选模块筛选的特定个数是触摸屏电容达到充电饱和前的采样点的个数。

所述触摸屏终端，包括前述触摸屏防抖优化系统。

本发明解决了现有技术中未经排序筛选直接剔除抖动点所造成的画线不连续的问题，同时提升了触摸屏的响应速率和ADC的使用效率，此外利用低通滤波，更好地保证了输出信号的连续性，实现了对触摸屏数据的优化。

附图说明

图1为触摸屏防抖优化方法的流程图；

图2为触摸屏防抖优化方法的另一种流程图；

图3为触摸屏防抖优化系统的结构框图；

图4为触摸屏防抖优化系统的另一种结构框图；

图5为触摸屏终端的结构框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1

图1为触摸屏防抖优化方法的流程图。

步骤101，多次获取触摸屏当前触点的坐标，步骤102，对获取的坐标进行排序，步骤103，筛选排序所得序列两端的特定个数的抖动坐标，步骤104，去除抖动坐标。其中，所述的多次获取触摸屏当前触点的坐标的具体步骤包括：

A1、识别触点信号，触发中断程序；

A2、切换坐标轴；

A3、ADC进行多次采样；

A4、再次切换至另一坐标轴，ADC再次进行多次采样；

A5、跳出中断程序；

A6、当产生触点中断时，执行A1-A5。

以四线电阻屏为例，触点信号的识别，是根据检测特定引脚，如INT引脚的电平状态实现的；ADC进行的多次采样原理如下，对X轴(水平轴)给电压，Y-(竖直轴一端)悬空，测Y+(竖直轴另一端)处电压。此时Y+处相当于X轴按下位置的抽头点，X轴坐标即为X_Pos＝Vadc/Vx*X_Length。式中X_Pos为实际触点位置，Vadc为ADC采样电压，Vx为X轴上的整个压降，X_Length代表X轴的长度。通过切换坐标轴后多次采样的方法，延长坐标轴电压稳定时间，以降低电容充放电带来的干扰。

对获取的坐标排序，包括从大到小依次递减排序或从小到大依次递增排序。