[发明专利]面光源紫外线发光二极管灯及其制造方法有效
| 申请号： | 201710739946.3 | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN107606583B | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 金载助;申善雄 | 申请（专利权）人： | 首尔伟傲世有限公司 |
| 主分类号： | F21V3/04 | 分类号： | F21V3/04;F21V19/00;F21Y115/10 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 刘灿强;尹淑梅 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 内表面 面光源 粗化 全反射 紫外线发光二极管灯 转换成面光源 距离设置 转换成面 发射 点光源 制造 | ||
1.一种紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述紫外线发光二极管灯包括：
紫外线发光二极管芯片；
基板，所述紫外线发光二极管芯片设置在其上；以及
罩，与所述紫外线发光二极管芯片以一定距离设置并被构造为使从所述紫外线发光二极管芯片发射的点紫外光转换成面光，所述罩具有面对所述紫外线发光二极管芯片的内表面和与所述内表面相对的外表面，
其中，罩的外表面的曲线分布的倾斜度比罩的内表面的曲线分布的倾斜度小，使得罩的外表面的光反射率比内表面的光反射率低。
2.根据权利要求1所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，当罩的内表面和外表面的粗糙度取样长度L内的分布曲线单元的平均宽度Sm相同时，罩的外表面的中心线平均粗糙度Ra0比内表面的中心线平均粗糙度Ra1小。
3.根据权利要求2所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，如果罩的外表面的粗糙度取样长度L的中心线平均粗糙度Ra0除以粗糙度取样长度L内的分布曲线单元的平均宽度Sm0得到的值被定义为T0，罩的内表面的粗糙度取样长度L的中心线平均粗糙度Ra1除以粗糙度取样长度L内的分布曲线单元的平均宽度Sm1得到的值被定义为T1，则所述值T0小于所述值T1。
4.根据权利要求3所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述值T0和所述值T1满足T1>1.5T0。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述罩由聚甲基丙烯酸甲酯制成。
6.根据权利要求5所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述聚甲基丙烯酸甲酯是包含85wt％-100wt％甲基丙烯酸甲酯单体单元的丙烯酸类聚合物。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述罩由石英制成。
8.一种紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述紫外线发光二极管灯包括：
紫外线发光二极管芯片；
基板，所述紫外线发光二极管芯片设置在其上；以及
罩，与所述紫外线发光二极管芯片以一定距离设置并被构造为使从所述紫外线发光二极管芯片发射的点紫外光转换成面光，所述罩具有面对所述紫外线发光二极管芯片的内表面和与所述内表面相对的外表面，
其中，当罩的外表面和内表面的粗糙度取样长度L的中心线平均粗糙度Ra相同时，罩的外表面的分布曲线单元的平均宽度Sm0比内表面的分布曲线单元的平均宽度Sm1大，使得罩的外表面的光反射率比内表面的光反射率低。
9.根据权利要求8所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，如果罩的外表面的粗糙度取样长度L的中心线平均粗糙度Ra0除以粗糙度取样长度L内的分布曲线单元的平均宽度Sm0得到的值被定义为T0，罩的内表面的粗糙度取样长度L的中心线平均粗糙度Ra1除以粗糙度取样长度L内的分布曲线单元的平均宽度Sm1得到的值被定义为T1，则所述值T0小于所述值T1。
10.根据权利要求9所述的紫外线发光二极管灯，其特征在于，所述值T0和所述值T1满足T1>1.5T0。
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