[发明专利]斜面型胀差校验仪及其校验方法

权利要求书

1.一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，包括带刻度的底盘(2)，带刻度的底盘(2)的两端分别与两个固定支架连接，每个固定支架上分别设有一个测量探头，带刻度的底盘(2)上设有精密平移滑块(11)，精密平移滑块(11)与平移测微螺杆(12)连接，精密平移滑块(11)上设有用于放置测量靶块(7)的带刻度的精密旋转滑块(14)，带刻度的精密旋转滑块(14)与旋转微调螺杆(15)和粗调手柄(16)连接，两个测量探头相对设置，测量靶块(7)设于两个测量探头之间。

2.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，所述的带刻度的精密旋转滑块(14)内部设有确保带刻度的精密旋转滑块(14)能够均匀、平稳、旋转的平面轴承。

3.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，每个所述的固定支架上设有V型槽，测量探头设于V型槽内。

4.如权利要求3所述的一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，所述的测量探头通过设于固定支架上的带紫铜压块的固定螺钉紧固。

5.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，所述的测量探头为被校验的斜面型胀差监视器所使用的传感器。

6.如权利要求1所述的一种斜面型胀差校验仪，其特征在于，所述的精密平移滑块(11)采用精密滚珠式双V型滑动导轨。

7.一种使用如权利要求1所述的斜面型胀差校验仪的校验方法，其特征在于，包括以下步骤：将两个测量探头分别固定在两个固定支架上的V型槽内，按照汽轮机大轴上的胀差被测位置的表面斜角角度，调整带刻度的精密旋转滑块(14)的角度，使带刻度的精密旋转滑块(14)的角度与汽轮机大轴上的胀差被测位置的表面斜角角度完全相同；旋转平移测微螺杆(12)，可移动固定在精密平移滑块(11)上的测量靶块(7)，将此位置作为仪表的测量“零位”，在完成把测量靶块(7)固定在测量“零位”后，按照现场实际使用时两个测量探头分别与测量靶块(7)之间的距离，通过两个带紫铜压块的固定螺钉分别将安装于固定支架V型槽内的两个测量探头可靠固定，旋转平移测微螺杆(12)，记录测量靶块(7)的移动量和斜面型胀差监视保护仪表的指示和仪表的记录输出，通过计算得出斜面型胀差监视保护仪表的指示和仪表记录输出的精度和线性度，判断斜面型胀差监视保护测量回路是否满足测量要求，完成对斜面型胀差监视保护仪表的回路校验。

8.如权利要求7所述的一种斜面型胀差校验仪的校验方法，其特征在于，所述的斜面型胀差监视保护仪表的指示和仪表记录输出的精度计算方法如下：校验并记录多组数据，并与理论值进行比较，按照误差理论的有关计算方法，得出各点的误差值进行判断，如果每一点的误差都小于±5％，即被校验的监视保护仪表合格，否则为不合格；所述的线性度采用常规的最小二乘法的计算方法得出，具体的操作步骤和计算方法如下：按照上述的操作步骤，校验并记录多组数据，根据试验得出的多组数据，用最小二乘法，拟合成一根直线方程，得出平均灵敏度和各点的理论输出值，并与理论输出值进行比较，按照误差理论的有关计算方法，得出各点的误差值进行判断，如果每一点的误差都小于±1％，即被校验的监视保护仪表合格，否则为不合格。